University of Denver. Denver. US, JCPDS-International Centre for Diffraction Data, Annual Conference on the Applications of X-Ray Analysis, 14, Denver. US, 1982
Título Ser./Col.:
Advances in X-ray analysis, vol.26
Idioma:
eng
Datos de Edición:
New York. US. Plenum Press. 1983.
Pág./Vol.:
473p.
Notas:
Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química.