Término solicitado: FAY, M.^REDS./(22)
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Tipo de Docum.: | advance |
Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
Autor: | Mueller, W.M.; Fay, M.. eds. |
Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Application of X-Ray Analysis, 11, 1962 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1963. |
Pág./Vol.: | 477p. |
Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Metales; Polímeros; Aleaciones; Petroleo; Minería |
Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 6/A |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | advance |
Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 13, Denver. US, 1964 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1965. |
Pág./Vol.: | 472p. |
Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Polímeros; Algodón |
Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 8/A |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | advance |
Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 11, Denver. US, 1963 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1964. |
Pág./Vol.: | 662p. |
Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Silicatos |
Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 7/A |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
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