Término solicitado: KEITH BEDDOW, JOHN^RED./(22)
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Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Particle characterization in technology |
Autor: | Keith Beddow, John. ed. |
Título Ser./Col.: | CRC series on fine particle science and technology; Uniscience series on fine particle science and technology |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Boca Raton. US. CRC Press. 1986. |
Pág./Vol.: | 2v. |
Notas: | V. 1: Application and microanalysis - 246 p.- V. 2: Morphological analysis - 265 p. . |
Descriptores: | Partículas; Granulometría; Microanálisis |
Ubicación: | 620.168.3/P2583 |
Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
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