Término solicitado: LOZANO, ALEX/(22)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Laboratorio de diseño y caracterización de circuitos integrados y MEM |
Autor: | Echarri, Martín; Gabian, Gabriel; Tozzi, Leandro; Lozano, Alex |
Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2011. |
Pág./Vol.: | p.298-299. |
Notas: | Tema 07: Los nuevos productos argentinos, P11181. |
Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
Descriptores: | Diseño de circuitos; Circuitos integrados; Dispositivos electrónicos; Microelectrónica; Semiconductores; Software |
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Trabajo de INTI |
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Ubicación: | 4686 |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Estudio de películas de silicio amorfo para su utilización en microbolometros de imágenes IR |
Autor: | Giannetta, Hernán; Zabala, M.; Lozano, Alex; Fraigi, Liliana; Fonseca, L. |
Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Microelectrónica. Instituto de Microelectrónica. CNM-IMB. Barcelona. ES |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2011. |
Pág./Vol.: | p.292-293. |
Notas: | Tema 07: Los nuevos productos argentinos, P11165. |
Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
Descriptores: | Películas delgadas; Silicio; Estado amorfo; Detectores infrarrojos; Rayos infrarrojos; Depósitos; Deposición |
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Trabajo de INTI |
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Ubicación: | 4686 |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Evaluación de sensores industriales |
Autor: | Lupi, Daniel; Lozano, Alex |
Autor Instit.: | Centro de Investigación de Tecnología Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Centro de Investigación de Tecnología Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR, Seminario internacional Sensores y microsistemas de aplicación industrial, Buenos Aires. AR, 1996 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-CITEI. 1996. |
Pág./Vol.: | p.441-463. |
Unidad técnica: | CITEI. |
Descriptores: | Sensores; Microsensores; Microsistemas; Microelectrónica; Aplicaciones |
Trabajo de INTI |
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Ubicación: | 3916 |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
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