Término solicitado: PICKLES, W.L./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Pickles, W.L.; Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 23, Denver. US, 1974 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1975. |
| Pág./Vol.: | 642p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Plasma; Aire; Aerosoles |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/18/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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