Término solicitado: RAYOS X/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Estudio de la esfericidad y compacidad en fundición de hierro con grafito esferoidal mediante tomografía computarizada de rayos X |
| Autor: | Peralta, M. E.; Díaz, F. V.; Fernandino, D. O. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
| Pág./Vol.: | pag. varias: grafs.; tbls. |
| Unidad técnica: | INTI-Departamento de Validación de Equipos y Componentes Centro. |
| Descriptores: | Fundición; Hierro; Grafito; Rayos X; Ensayos no destructivos; Tomografía computarizada |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural |
| Autor: | Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S. F.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Análisis químico; Patrimonio; Bienes culturales |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Principles of modern physics |
| Autor: | Leighton, Robert B. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 1.ed.. New York; Tokyo. US; JP. McGraw-Hill; Kogakusha. |
| Pág./Vol.: | 795p. |
| Notas: | Edición internacional estudiantil. |
| Descriptores: | Física; Relatividad; Teoría cuántica; Radioactividad; Espectros moleculares; Solidos; Átomos; Electrones; Espectros atómicos; Rayos X; Nucleones; Suspensión de partículas; Física nuclear; Reacciones nucleares; Protones; Nucleones; Estructura atómica |
| Ubicación: | 539.1/L525 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Zinc + nickel + microparticles coatings : production process and structural characterization |
| Autor: | Mahmud, Zulema A.; Amelotti, Franco; Serpi, Carlos; Maskaric, Jorge; Mirabal, Martín; Mingolo, Norma; Gassa, Liliana; Tulio, Paulo; Gordillo, Gabriel |
| Reunión: | International Congress of Science and Technology of Metallurgy and Materials, SAM – CONAMET, 2014 |
| Título Ser./Col.: | Procedia Materials Science (2015), 9 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. US. Elsevier. 2015. |
| Pág./Vol.: | 10p. |
| Unidad técnica: | INTI-Procesos Superficiales. |
| Descriptores: | Cinc; Niquel; Metales; Revestimientos; Procesos superficiales; Electrodeposición; Aleaciones; Ensayos; Rayos X; Corrosión; Procesos industriales; Análisis estructural |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Metalurgia física y sus aplicaciones industriales |
| Autor: | Nardo, Juan B. de |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Barcelona, ES; Buenos Aires. AR. José Montesó. 1946. |
| Pág./Vol.: | 518p. |
| Descriptores: | Metalurgia; Física; Aplicaciones; Metalografía; Aleaciones; Hierro; Aceros; Aleaciones no ferrosas; Ensayos; Rayos X; Tensiones; Fatiga; Metales; Propiedades mecánicas; Fractura de materiales; Soldadura; Desgaste; Defectos de los materiales; Superficies metálicas; Cristalografía |
| Ubicación: | Mecánica/258/Edif.9/Biblioteca |
| Disponibilidad: | INTI-Mecánica |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Sample preparation for trace element analysis. |
| Autor: | Mester, Z.; Sturgeon, R. |
| Título Ser./Col.: | Comprehensive analytical chemistry, 41 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Amsterdam. NL. Elsevier. 2003. |
| Pág./Vol.: | 1286p. |
| Descriptores: | Muestreo; Estrategias; Análisis; Calidad; Transporte; Control de calidad; Control de la contaminación; Mediciones; Calibración; Normalización; Certificación; Incertidumbre; Espectroscopia; Instrumentos de medición; Espectrómetros; Espectros atómicos; Espectroscopía de masa; Fluorescencia; Microondas; Rayos X; Espectrofotometría; Moléculas; Voltametría; Rayos catódicos; Electrodos; Arsenico; Selenio; Equipos de laboratorio; Guias de ondas; Salud; Presión; Temperatura; Compuestos inorgánicos; Sólidos; Metales; Iones; Agua; Criogenia; Membranas; Inyección de moldes; Gases; Oxidación; Rayos ultravioleta; Sólidos; Metales |
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| Ubicación: | CEQUIPE/299 |
| Disponibilidad: | INTI-Química |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Mineralogía aplicada; salud y medio ambiente |
| Autor: | Carretero León, María Isabel; Pozo Rodríguez, Manuel |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Madrid. ES. Thomson. 2007. |
| Pág./Vol.: | 406p. |
| Descriptores: | Mineralogía; Salud; Medio ambiente; Minerales; Contaminación ambiental; Cristalografía; Cristaloquímica; Propiedades físicas; Rayos X; Microscopía; Microscopía electrónica; Espectroscopía; Rayos infrarrojos; Análisis químico; Sulfuros; Oxidos; Hidróxidos; Silicatos; Asbestos; Arcillas; Propiedades fisicoquímicas; Partículas; Intercambio de iones; Agua; Farmacología; Terapéutica; Residuos; Almacenamiento; Aguas residuales; Gases; Descontaminación; Sustancias tóxicas; Suelos; Sedimentación |
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| Ubicación: | Construcciones/721 |
| Disponibilidad: | INTI-Construcciones |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Handbook of infrared detection technologies |
| Autor: | Henini, Mohamed. ed.; Razeghi, Manijeh. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Elsevier. 2002. |
| Pág./Vol.: | 518p. |
| Descriptores: | Detectores infrarrojos; Fotones; Performance; Fotodiodos; Termoelectricidad; Piroelectricidad; Fotodetectores; Bajas temperaturas; Rayos X; Diodos; Mediciones; Ruidos; Celdas fotovoltaicas; Sensores; Altas temperaturas; Fotoemisión; Silicio |
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| Ubicación: | CITEI/98 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
| Tipo de Docum.: | informe; tesis |
| Título: | The effects of ionizing radiationon microelectromechanical systems (MEMS) actuator: electrostatic, electrothermal and residual stress |
| Autor: | Caffey, Jared R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Ohio. US. AFIT. 2003. |
| Pág./Vol.: | pag.varía. |
| Descriptores: | Radiación ionizante; Microelectrónica; Mecánica; Actuadores; Electrostática; Tensiones; Radiación; Reactores nucleares; Fotones; Semiconductores; Diseño; Imágenes; Rayos X; Rayos gamma; Energía |
| Ubicación: | Electrónica/Microsistemas/4 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Polymer reference book |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shropshire. GB. RAPRA technology limited. 2006. |
| Pág./Vol.: | 704p. |
| Descriptores: | Polímeros; Metales; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Rayos X; Espectroscopía de rayos X; No metales; Halógenos; Sulfuros; Carbono; Nitrógeno; Hidrógeno; Oxígeno; Combustión; Análisis de Fourier; Resonancia magnética nuclear; Gases; Pirólisis; Electroquímica; Agua; Performance; Líquidos; Polarografía; Temperatura; Lasers; Espectrofotometría; Rayos ultravioleta; Luminiscencia; Fluorescencia; Viscoelasticidad; Propiedades térmicas; Propiedades ópticas; Propiedades eléctricas; Propiedades químicas |
| Ubicación: | CITIC/678.7/C945 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Food analysis: theory and practice |
| Autor: | Pomeranz, Yeshajahu; Meloan, Clifton E. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Westport. US. AVI. 1980. |
| Pág./Vol.: | 710p. |
| Descriptores: | Alimentos; Análisis de alimentos; Métodos de análisis; Composición química; Métodos de determinación; Muestreo; Espectroscopía; Rayos ultravioletas; Color; Fluorescencia; Fosforescencia; Rayos infrarrojos; Fotometría; Rayos X; Potenciometría; Métodos electroanalíticos; Electroforesis; Voltametría; Espectroscopía de masa; Resonancia magnética nuclear; Radioactividad; Columnas cromatográficas; Cromatografía; Extracción; Centrifugación; Densitometría; Refractometría; Reología; Análisis ensimático; Microbiología de alimentos; Humedad; Cenizas; Minerales; Carbohidratos; Lípidos; Compuestos de nitrógeno; Análisis sensorial |
| Ubicación: | CEIAL/248/Lab.Harinas |
| Disponibilidad: | INTI-Cereales y Oleaginosas |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Patterning of material layers in submicron region |
| Autor: | Tandon, U.S.; Khokle, W.S. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York, US; Brisbane, GB; Toronto, CA; Singapore. SG. Wiley. 1993. |
| Pág./Vol.: | 183p. |
| Descriptores: | Microelectrónica; Dispositivos electrónicos; Micrones; Nanotecnología; Litografía; Electrones; Iones; Rayos X |
| Ubicación: | Electrónica/E-24 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
| Tipo de Docum.: | serie monográfica |
| Título: | Sensors a comprehensive survey; volume 8: Micro-and nanosensor technology/ trends in sensor markets |
| Autor: | Göpel, W.. ed.; Hesse, J.. ed.; Zemel, J.N.. ed.; Meixner, H.. ed.; Jones, R.. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Weinheim, DE; New York. US. VCH. 1995. |
| Pág./Vol.: | 565p. |
| Descriptores: | Sensores; Nanosensores; Microsensores; Nanotecnología; Materiales; Microsistemas; Diseño; Presión; Acelerometros; Densidad; Sensores magnéticos; Procesamiento de señales; Humedad; Circuitos; Formas tridimensionales; Rayos X; Microestructuras; Performance; Aceleración; Mediciones; Espectroscopía; Análsis químico; Control de procesos; Ondas acústicas; Sensores físicos; Altas temperaturas; Mediciones; Gases; Sensores ópticos; Interferometría; Vibraciones; Fibras ópticas; Espectros; Biosensores; Medicina; Salud; Pruebas; Automotores; Automoviles; Nafta; Micromecanización; Silicio |
| Ubicación: | Electrónica/A-75 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
| Tipo de Docum.: | reunión |
| Título: | Comité Consultatif pour les Etalons de Mesure des Rayonnements Ionisants. Section I. Rayon X et gamma, electrons: rapport |
| Reunión: | Oficina Internacional de Pesas y Medidas. BIPM. Paris. FR, Session, 7, Sèvres, 1983 |
| Idioma: | fra |
| Datos de Edición: | Sèvres. FR. BIPM. 1983. |
| Pág./Vol.: | 42p. |
| Notas: | Existen dos ejemplares. |
| Descriptores: | Metrología; Sistema Internacional de Unidades; Unidades de medición; Patrones; Radiometría; Radiación ionizante; Rayos X; Rayos gamma; Electrones |
| Ubicación: | FISICA/474/Div.Luminotecnia |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | reunión |
| Título: | Comité Consultatif pour les Etalons de Mesure des Rayonnements Ionisants. Section I. Rayon X et gamma, electrons: rapport |
| Reunión: | Oficina Internacional de Pesas y Medidas. BIPM. Paris. FR, Session, 5, Sèvres, 1979 |
| Idioma: | fra |
| Datos de Edición: | Sèvres. FR. BIPM. 1979. |
| Pág./Vol.: | 18p. |
| Notas: | Existen dos ejemplares. |
| Descriptores: | Metrología; Sistema Internacional de Unidades; Unidades de medición; Patrones; Radiometría; Radiación ionizante; Rayos X; Rayos gamma; Electrones |
| Ubicación: | FISICA/472/Div.Luminotecnia |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | reunión |
| Título: | Comité Consultatif pour les Etalons de Mesure des Rayonnements Ionisants. Section I. Rayon X et gamma, electrons: rapport |
| Reunión: | Oficina Internacional de Pesas y Medidas. BIPM. Paris. FR, Session, 6, Sèvres, 1977 |
| Idioma: | fra |
| Datos de Edición: | Sèvres. FR. BIPM. 1977. |
| Pág./Vol.: | 64p. |
| Descriptores: | Metrología; Sistema Internacional de Unidades; Unidades de medición; Patrones; Radiometría; Radiación ionizante; Rayos X; Rayos gamma; Electrones |
| Ubicación: | FISICA/471/Div.Luminotecnia |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
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