Título/s: Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural
Autor/es: Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D.
Editor: INTI
Palabras clave: Rayos X; Análisis químico; Patrimonio; Bienes culturales
Idioma: spa
Fecha: 2017
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