Título/s: Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld
Autor/es: Amore, S.; Schvartz, M.; Álvarez, R.; Loiacono, N.
Institución: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR
Editor: INTI
Palabras clave: Difracción de rayos x; Estructura cristalina
Idioma: spa
Fecha: 2017
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