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cerrar esta sección de la biblioteca Mendive, Damián
Ver el documento Ver el documento (formato PDF) Estudio por microscopía de fuerza atómica de películas delgadas depositadas por PVD (physical vapor deposition) sobre Si (100) - 2000. Corengia, Pablo; Ybarra, Gabriel; Mendive, Damián; Egidi, Daniel; Fraigi, Liliana; Quinteiro, Mario; Moina, Carlos