Título/s: Application of the Berreman effect to the characterization of TiO2 thin layers formed onto titanium substrates
Fuente: Procedia Materials Science, 1 ( 2012 ) 469 – 474
Autor/es: Parodi, M. B.; Rodríguez, L.; Pazos, L.; González Ruiz, J.; Paz Ramos, A.; Ybarra, G.
Institución: INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires, AR
Centro Nacional de Investigaciones Científicas. La Habana, CU
Facultad de Química, Universidad de La Habana. La Habana, CU
Editor: Elsevier
Palabras clave: Titanio; Dióxido de titanio; Películas delgadas; Recubrimientos superficiales; Espectroscopía; Espectros infrarrojos
Idioma: eng
Fecha: 2012
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