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cerrar esta sección de la biblioteca Schaapman, Kars
Ver el documento Ver el documento (formato PDF) Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices - 2018. Belcher, Allan; Williams, Jonathan; Ireland, Jane; Iuzzolino, Ricardo; Bierzychudek, Marcos E.; Dekker, Ronald; Herick, Jonas; Behr, Ralf; Schaapman, Kars