Título/s: Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices
Autor/es: Belcher, Allan; Williams, Jonathan; Ireland, Jane; Iuzzolino, Ricardo; Bierzychudek, Marcos E.; Dekker, Ronald; Herick, Jonas; Behr, Ralf; Schaapman, Kars
Editor: IOP
Palabras clave: Voltaje; Corriente alterna; Corriente continua; Metrología; Mediciones eléctricas
Idioma: eng
Fecha: 2018
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