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 |  | High resistance measurements with a two-terminal cryogenic current comparator - 2012. Bierzychudek, M.; Tonina, A. |
| | Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar - 2013. Real, Mariano; Tonina, A.; Elmquist, Randolph E.; Lass, Eric A.; Liu, Fan-Hung; Soons, Johannes A. |
| | Estudio de propiedades termoeléctricas en sistemas bidimensionales - 2017. Real, M.; Tonina, A.; Giudici, P.; Arrachea, L. |
| | Comparison of the Josephson voltage standards of the INTI and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.a) - 2012. Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M.; Iuzzolino, R.; Tonina, A. |
| | Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar - 2013. Real, M.A.; Tonina, A.; Elmquist, R.E.; Lass, E.A.; Liu, F.H.; Soons, J. |
| | SIM.EM – S9b, 1 Ω and 10 kΩ : 2012 Resistance Bilateral Comparison between SIM/COOMET Laboratories. Comparison of Resistance Standards at 1 Ω and 10 kΩ between INIMET (Cuba) and INTI (Argentina) - 2014. Tonina, A.; Currás, M.; Navarro, M. |
| | Intercomparación de resistencia en 1 Ω y 10 Ω entre INTI e INIMET - 2013. Tonina, A.; Currás, M.; Navarro González, M. |
| | Design and fabrication of high value standard resistors at INTI - 2008. Bierzychudek, M.; Garcia, R.; Real, M.; Tonina, A. |
| | Sobre el error de extrapolación en la calibración de termopares tipo s - 2013. Tonina, A.; Currás, M.; Navarro González, M. |
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