Término solicitado: BAJENESCO, T.I./(22)
1 Registro/s encontrado/s en CAT
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Problemes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
Autor: | Bajenesco, T.I. |
Idioma: | fra |
Datos de Edición: | Paris. FR. Masson. 1980. |
Pág./Vol.: | 240p. |
Descriptores: | Confiabilidad; Componentes electrónicos; Transistores; Circuitos integrados; Circuitos híbridos integrados; Semiconductores; Microprocesadores; Fallas |
Ubicación: | 621.3.038/B165 |
Disponibilidad: | Préstamo |
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]