Término solicitado: BAJENESCO, T.I./(22)
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Problemes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels |
| Autor: | Bajenesco, T.I. |
| Idioma: | fra |
| Datos de Edición: | Paris. FR. Masson. 1980. |
| Pág./Vol.: | 240p. |
| Descriptores: | Confiabilidad; Componentes electrónicos; Transistores; Circuitos integrados; Circuitos híbridos integrados; Semiconductores; Microprocesadores; Fallas |
| Ubicación: | 621.3.038/B165 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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