Término solicitado: MALLETT, G.R./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.; Newkirk, J.B.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 18, Denver. US, 1969 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1970. |
| Pág./Vol.: | 681p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/13/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.; Barrett, C.S.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 17, Denver. US, 1968 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1969. |
| Pág./Vol.: | 648p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/12/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.; Pfeiffer, H.G. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 16, Denver. US, 1967 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1968. |
| Pág./Vol.: | 499p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/11/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 15, Denver. US, 1966 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1967. |
| Pág./Vol.: | 558p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/10/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 13, Denver. US, 1964 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1965. |
| Pág./Vol.: | 472p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Polímeros; Algodón |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 8/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 11, Denver. US, 1963 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1964. |
| Pág./Vol.: | 662p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Silicatos |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 7/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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