Término solicitado: PFEIFFER, H.G./(22)
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | X-ray absorption and emission in analytical chemistry: spectrochemical analysis with X-rays |
| Autor: | Liebhafsky, H.A.; Pfeiffer, H.G.; Winslow, E.H.; Zemany, P.D. |
| Autor Instit.: | General Electric Research Laboratory |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. J. Wiley. 1960. |
| Pág./Vol.: | 357p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Absorción; Rayos X; Emisión; Análisis químico; Análisis espectroquímico; Intensidad; Mediciones; Detectores; Espectroscopía de rayos X; Métodos ópticos; Optica; Propiedades ópticas; Láminas; Espectrografía; Equipamiento; Energía; Longitud de onda; Masa; Difracción; Medidas de seguridad |
| Ubicación: | 543.422/L716; CEQUIPE/149/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.; Pfeiffer, H.G. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 16, Denver. US, 1967 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1968. |
| Pág./Vol.: | 499p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/11/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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