Término solicitado: COLIN CASTELLANOS, C./(22)
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Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | International comparison of surface roughness and step height (depth) standards, SIML-S2 (SIM 4.8) |
Autor: | Doytchinov, K.; Kornblit, F.; Colin Castellanos, C.; Oliveira, J.C.V.; Renegar, T.B.; Vorburger, T.V. |
Autor Instit.: | Institute for National Measurement Standards, National Research Council. NRC. Ottawa. CA; Instituto Nacional de Technologia Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro. MX; National Institute of Metrology Standardization and Industrial Quality. INMETRO. Duque de Cacias. BR; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. USA |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. AR. s.e. s.f. |
Pág./Vol.: | 24p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Rugosidad de superficies; Sistema Interamericano de Metrología; Calibración; Mediciones; Normalización; Incertidumbre; Laboratorios; Normas |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
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