Término solicitado: GIANNETTA, HERNAN/(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Estudio de películas de silicio amorfo para su utilización en microbolometros de imágenes IR |
| Autor: | Giannetta, Hernán; Zabala, M.; Lozano, Alex; Fraigi, Liliana; Fonseca, L. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Microelectrónica. Instituto de Microelectrónica. CNM-IMB. Barcelona. ES |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2011. |
| Pág./Vol.: | p.292-293. |
| Notas: | Tema 07: Los nuevos productos argentinos, P11165. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Películas delgadas; Silicio; Estado amorfo; Detectores infrarrojos; Rayos infrarrojos; Depósitos; Deposición |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4686 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
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