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Término solicitado: GIANNETTA, HERNAN/(22)

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Estudio de películas de silicio amorfo para su utilización en microbolometros de imágenes IR
Autor: Giannetta, Hernán; Zabala, M.; Lozano, Alex; Fraigi, Liliana; Fonseca, L.
Autor Instit.: INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Microelectrónica. Instituto de Microelectrónica. CNM-IMB. Barcelona. ES
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2011.
Pág./Vol.: p.292-293.
Notas: Tema 07: Los nuevos productos argentinos, P11165.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Películas delgadas; Silicio; Estado amorfo; Detectores infrarrojos; Rayos infrarrojos; Depósitos; Deposición

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Trabajo de INTI
  
Ubicación: 4686
Disponibilidad: Consulta in situ



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