Término solicitado: BIANCHETTI, ARTURO/(22)
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Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle |
Autor: | Etchepareborda, Pablo; Veiras, Francisco; Bianchetti, Arturo; Federico, Alejandro; González, Martín Germán |
Título Ser./Col.: | Elektron, 3(1) |
Autor Inst. Ser./Col.: | Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. FIUBA. Buenos Aires. Argentina |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. FIUBA. 2019. |
Pág./Vol.: | p. 52-57. |
Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
Descriptores: | Mediciones; Nanometrología; Polímeros electroactivos; Materiales piezoeléctricos; Piezoelectricidad |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/76 |
Tipo de Docum.: | serie monográfica |
Título: | Aberrometrías oculares y de otros sistemas ópticos: transformación de coeficientes Zernicke al contraer y desplazar; transversalmente la pupila |
Autor: | Comastri, Silvia A.; Bastida, Karina; Martin, Gabriel; Bianchetti, Arturo |
Autor Instit.: | Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. CONICET. Buenos Aires. AR; Grupo de Óptica y Visión-Facultad de Ingeniería-Universidad de Buenos Aires. UBA. Buenos Aires. AR; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Reichert Inc. Depew, NY. US; Dirección de Tecnología-Telefónica Móviles de Argentina. Movistar Argentina. Buenos Aires. AR |
Título Ser./Col.: | Documento de Trabajo, 208 |
Autor Inst. Ser./Col.: | Universidad de Belgrano. Facultad de Ingeniería. UB. Buenos Aires. AR |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. Universidad de Belgrano. 2008. |
Pág./Vol.: | 20p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Visión; Ojos; Distorción; Optica; Sistemas ópticos; Imágenes |
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Trabajo de INTI |
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