Término solicitado: BONAPARTE, J./(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Degradación de estructuras SOI en ambientes hostiles |
| Autor: | Lozano, A.; Palumbo, F.; Malatto, L.; Gimenez, G.; Bonaparte, J. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y Nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Degradación; Siliconas |
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Trabajo de INTI |
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