Término solicitado: ELMQUIST, RANDOLF E./(22)
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Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Precision high-value resistance scaling with a two-terminal cryogenic current comparator |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Hernadez-Marquez, F. L.; Jones, G. R. Jr.; Elmquist, Randolf E. |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Metrología. Querétaro. MX; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US |
Título Ser./Col.: | Review of Scientific Instruments, v. 85, n. 4 |
Autor Inst. Ser./Col.: | American Institute of Physics. US |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. s.n. 2014. |
Pág./Vol.: | 6p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Criogenia; Comparadores; Instrumentos de medición; Ensayos de resistencia; Voltaje; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | informe |
Título: | RMO comparison final report : High value resistance comparison with two-terminal cryogenic current comparators |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Elmquist, Randolf E.; Hernández, Felipe |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US; Centro Nacional de Metrología. Querétaro. MX |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. s.n. 2013. |
Pág./Vol.: | 36p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Instrumentos de medición; Comparadores; Criogenia; Ensayos de resistencia; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Uncertainty evaluation in two-terminal cryogenic current comparator |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Elmquist, Randolf E. |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US |
Título Ser./Col.: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2009, vol. 58, n. 4 |
Autor Inst. Ser./Col.: | IEEE |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2009. |
Pág./Vol.: | 7p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Incertidumbre; Instrumentos de medición; Comparadores; Criogenia; Voltaje; Ensayos de resistencia; Ruido; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Uncertainty evaluation in two-terminal cryogenic current comparator |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Elmquist, Randolf E. |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; National Institute of Standards and Technology. Gaithersburg. US |
Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM, Broomfield. US, 2008 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2008. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Incertidumbre; Instrumentos de medición; Comparadores; Criogenia; Voltaje; Resistencia térmica; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | High resistance scaling from 10 k[omega] and QHR standards using a Cryogenic Current Comparator |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Elmquist, Randolf E.; Jones, G. R.; Pritchard, B.; Hernández, F. |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; National Measurement Institute. West Lindfield. AU; Centro Nacional de Metrología. Querétaro. MX |
Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM, Broomfield. US, 2008 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2008. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Resistencia eléctrica; Instrumentos de medición; Comparadores; Criogenia; Metrología |
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Trabajo de INTI |
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