Término solicitado: FRAIGI, L.B./(22)
4 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Síntesis de nanopartículas compuestas óxido/metal catalítico |
| Autor: | Moina, C.A.; Ybarra, G.O.; Della Vecchia, M.A.; Fraigi, L.B.; Weinstock, A.F. |
| Autor Instit.: | INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires. AR; INTI-Química. Buenos Aires. AR; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Nanotecnología, desarrollo e innovación, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2007 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2007. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | INTI-Procesos Superficiales; INTI-Química; INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Nanopartículas; Oxidos; Metales; Aditivos; Catálisis; Sensores de gases; Platino; Polvo metálico; Espectroscopía; Espectros infrarrojos |
 Ver Documento
| |
Trabajo de INTI |
|
| Ubicación: | PEI/2 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Fabricación y caracterización de microceldas electroquímicas |
| Autor: | Weinstock, A.; Malatto, L.; Milano, O.; Fraigi, L.B.; Moina, C.A.; Ybarra, G.O.; Pavoni, S. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires. AR; Centro de Investigaciones en Microelectrónica. Instituto Superior Politécnico José A. Echeverría. La Habana. CU |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Biotecnología, desarrollo e innovación, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2007 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2007. |
| Pág./Vol.: | 5p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática; INTI-Procesos superficiales. |
| Descriptores: | Celdas electroquímicas; Películas gruesas; Electrodos; Métodos electroquímicos; Mediciones; Métodos electroanalíticos; Fluidos |
| Ver Documento
| |
Trabajo de INTI |
|
| Ubicación: | PEI/2 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Comparison between two combustion routes for the synthesis of nanocrystalline SnO2 powders |
| Autor: | Fraigi, L.B.; Lamas, D.G.; Walsöe de Reca, N.E. |
| Autor Instit.: | Centro de Investigación y Desarrollo en Telecomunicaciones, Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR; Programa de Investigación en Sólidos. PRINSO. Villa Martelli. AR |
| Reunión: | Centro de Investigación y Desarrollo en Telecomunicaciones, Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR, CLAF, Polo Tecnológico Constituyentes. PTC, Ibersensor 2000; IberoAmerican conference on sensors, 2, Buenos Aires. AR, 2000 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-CITEI. 2001. |
| Pág./Vol.: | p.48-51. |
| Notas: | Para préstamo véase el ejemplar de la estantería general. |
| Unidad técnica: | CITEI. |
| Descriptores: | Combustión; Polvo; Dióxido de estaño; Nanoestructuras |
Trabajo de INTI |
|
| Ubicación: | 4326; 621.381.7/I12 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | [Solid ionic oxide/semiconductor oxide] interface for gas sensing |
| Autor: | Lamas, D.G.; Fraigi, L.B.; Juárez, R.E.; Walsöe de Reca, N.E. |
| Autor Instit.: | Centro de Investigación y Desarrollo en Telecomunicaciones, Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR; Programa de Investigación en Sólidos. PRINSO. Villa Martelli. AR |
| Reunión: | Centro de Investigación y Desarrollo en Telecomunicaciones, Electrónica e Informática. CITEI. Buenos Aires. AR, CLAF, Polo Tecnológico Constituyentes. PTC, Ibersensor 2000; IberoAmerican conference on sensors, 2, Buenos Aires. AR, 2000 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-CITEI. 2001. |
| Pág./Vol.: | p.41-43. |
| Notas: | Para préstamo véase el ejemplar de la estantería general. |
| Unidad técnica: | CITEI. |
| Descriptores: | Sensores de gases; Semiconductores; Oxido de carbono; Sensores químicos |
Trabajo de INTI |
|
| Ubicación: | 4326; 621.381.7/I12 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]