Servicios de Información y Documentación

Biblioteca

Término solicitado: MICROMETROS/(65)

14 Registro/s encontrado/s en CAT



Tipo de Docum.: manual
Título: Handbook of dimensional measurement
Autor: Farago, Francis T.
Idioma: eng
Datos de Edición: 2.ed.. New York. US. Industrial press. 1982.
Pág./Vol.: 524p.
Descriptores:           Dimensiones; Mediciones; Metrología; Instrumentos de medición; Calibres; Micrómetros; Calibradores; Longitud; Indicadores; Microscopios; Instrumentos ópticos; Proyectores; Angulos; Perfiles; Variables; Circularidad; Textura; Superficies; Roscas; Tornillos; Engranajes; Diámetro; Control de procesos; Automatización
  
Ubicación: FISICA/707/Div.Metrología Dimensional
Disponibilidad: INTI-Física



Tipo de Docum.: libro
Título: Metrología
Autor: González González, Carlos; Zeleny Vázquez, José Ramón
Idioma: spa
Datos de Edición: México. MX. McGraw-Hill. 1995.
Pág./Vol.: 692p.
Descriptores:           Metrología; Peso; Mediciones; Longitud; Unidades de medición; Normas; Normalización; Dimensiones; Errores; Instrumentos de medición; Reglas; Espesor; Patrones; Alambres; Láminas; Calibres; Telescopios; Calibradores; Contadores; Medidores; Altura; Contadores eléctricos; Micrómetros; Indicadores; Sensores; Superficies planas; Transportadores; Goniómetros; Tolerancia; Métodos ópticos; Instrumentos ópticos; Iluminación; Sistemas lineales; Microprocesadores; Rugosidad de superficies; Rugosímetros; Control de flujo; Presión; Mediciones de presión; Manómetros; Termómetros; Temperatura; Torsión; Inercia; Elasticidad; Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Galvanómetros; Ohm; Amperímetros; Sistema Internacional de Unidades
  
Ubicación: FISICA/706/Div.Metrología Dimensional
Disponibilidad: INTI-Física



Tipo de Docum.: libro
Título: Calibración de instrumentos; implementando ISO 17025 e ISO 10012
Autor Instit.: Instituto de Metrología Mitutoyo
Idioma: spa
Datos de Edición: s.l. MX. Mitutoyo Mexicana. s.f.
Pág./Vol.: 273p.
Descriptores:           Calibración; Instrumentos de medición; Normas; Mediciones; Metrología; Mecánica; Sistemas de calidad; Incertidumbre; Calibradores; Micrómetros; Medidores
  
Ubicación: FISICA/727
Disponibilidad: INTI-Física y Metrología



Tipo de Docum.: norma
Título: Normas JIS; en español
Autor Instit.: Japanese Standards Association. Tokyo. JP
Idioma: spa
Datos de Edición: s.l. JSA. s.f.
Pág./Vol.: 147p.
Notas: Contenido: JIS B 7506-1989 Bloques patrón; JIS B 7507-1993 Calibrados vernier, de carátula y digital; JIS B 7517-1993 Medidores de altura con vernier, carátula y digitales; JIS B 7502-1994 Micrómetros; JIS B 7544-1981 Micrómetros de profundidades; JIS B 7503-1997 Indicadores de carátula; JIS B 7533-1990 Indicadores de control tipo palanca; JIS B 7515-1982 Medidores de agujeros; JIS B 0601-1982 Definiciones y designación de la rugosidad superficial; JIS B 7184-1999 Proyectores de perfiles; JIS B 7540-1972 Bloques V; JIS B 7513-1992 Superficies planas de referencia; JIS B 7512-1993 Cintas de acero para medición; JIS B 7153-1995 Microscopios de medición; JIS B 7516-1987 Reglas metálicas.
Descriptores:           Normas; Calibradores; Medidores; Micrómetros; Rugosidad de superficies; Proyectores; Mediciones; Microscopios
  
Ubicación: FISICA/726
Disponibilidad: INTI-Física y Metrología



Tipo de Docum.: monografía
Título: Sexto curso panamericano de metalurgia: instrumental
Autor: Boschi, Luis A.; Castellá, Amílcar
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. Comisión Nacional de Energía Atómica. 1978.
Pág./Vol.: 159p.: fot.; il.; grafs.
Descriptores:           Metalurgia; Mediciones; Longitud; Precisión; Sensibilidad; Errores; Magnitudes; Calibres; Micrómetros; Mediciones eléctricas; Temperatura; Hornos; Calefacción; Presión; Métodos de ensayo; Ensayos no destructivos; Semiconductores
  
Ubicación: 669/C747
Disponibilidad: Préstamo



Tipo de Docum.: libro
Título: Fundamentals of dimensional metrology
Autor: Busch, Ted
Idioma: eng
Datos de Edición: 2.ed.. Albany. US. Delmar Publishers Inc. 1989.
Pág./Vol.: 723p.
Descriptores:           Metrología; Dimensiones; Mediciones; Instrumentos de medición; Sistema métrico; Micrómetros; Calibres; Neumática; Calibración; Mediciones ópticas; Angulos; Superficies planas; Superficies; Microscopios; Instrumentos ópticos; Tolerancia; Técnicas estadísticas
  
Ubicación: FISICA/710/Div. Metrología Dimensional
Disponibilidad: INTI-Física



Tipo de Docum.: libro
Título: Die Fernrohre und Entfernungsmesser
Autor: Könic, Albert; Köhler, Horst
Idioma: deu
Datos de Edición: 3.ed.. Berlin. DE. Springer-Verlag. 1959.
Pág./Vol.: 475p.
Descriptores:           Telescopios; Construcciones; Ensayos; Micrómetros
  
Ubicación: FISICA/142/Div.Luminotecnia
Disponibilidad: INTI-Física



Tipo de Docum.: informe
Título: Ensayo interlaboratorio: Calibración de micrómetros, 2005
Autor Instit.: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; INTI-Interlaboratorios. Buenos Aires. AR
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2005.
Pág./Vol.: 15p.
Unidad técnica: INTI-Física y Metrología.
Descriptores:           Micrómetros; Instrumentos de medición; Calibración; Ensayos de laboratorio; Mediciones; Incertidumbre

Ver Documento

Trabajo de INTI



Tipo de Docum.: guía
Título: Procedimiento DI-022 micrómetros de interior de tres contactos
Autor Instit.: Centro Español de Metrología. CEM. Madrid. ES
Idioma: spa
Datos de Edición: Madrid. ES. CEM. s.f.
Pág./Vol.: 30p.
Descriptores:           Calibración; Instrumentos de medición; Dimensiones; Micrómetros; Procesamiento de datos; Incertidumbre
  
Ubicación: 53.083/C397/DI-022
Disponibilidad: Préstamo



Tipo de Docum.: guía
Título: Procedimiento DI-021 micrómetros de interiores de dos contactos
Autor Instit.: Centro Español de Metrología. CEM. Madrid. ES
Idioma: spa
Datos de Edición: Madrid. ES. CEM. s.f.
Pág./Vol.: 37p.
Descriptores:           Calibración; Instrumentos de medición; Dimensiones; Micrómetros; Procesamiento de datos; Incertidumbre
  
Ubicación: 53.083/C397/DI-021
Disponibilidad: Préstamo



Tipo de Docum.: guía
Título: Procedimiento DI-005 para la calibración de micrómetros exteriores de dos contactos
Autor Instit.: Centro Español de Metrología. CEM. Madrid. ES
Idioma: spa
Datos de Edición: Madrid. ES. CEM. 2003.
Pág./Vol.: 40p.
Descriptores:           Calibración; Instrumentos de medición; Dimensiones; Micrómetros; Procesamiento de datos; Incertidumbre
  
Ubicación: 53.083/C397/DI-005
Disponibilidad: Préstamo



Tipo de Docum.: libro
Título: Metrotecnia, tolerancias e instrumentación
Autor: Lucchesi, Domenico
Título Ser./Col.: Nuevos manuales técnicos Labor, 16
Idioma: spa
Datos de Edición: Barcelona, ES; Buenos Aires. AR. Labor. 1973.
Pág./Vol.: 163p.
Descriptores:           Metrología; Instrumentos de medición; Tolerancia; Unidades de control; Equipos de control; Errores; Calibración; Micrómetros; Goniómetros; Ultrasonido
  
Ubicación: 53.08/L934
Disponibilidad: Préstamo



Tipo de Docum.: serie monográfica; curso
Título: Curso de microscopía de fibras papeleras
Autor: Rodríguez, Elvira; Casal, Olga Florencia
Autor Instit.: Centro de Investigación de Celulosa y Papel. CICELPA. Buenos Aires. AR
Título Ser./Col.: CICELPA Trabajo técnico, 89
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI-CICELPA. 1990.
Pág./Vol.: 112p., ilus.
Notas: Para préstamo véase el ejemplar de la estantería general.
Unidad técnica: CICELPA.
Descriptores:           Fibras celulósicas; Maderas; Materias primas; Clasificación; Análisis macroscópico; Leña; Microscopios; Análisis microscópico; Coníferas; Micrómetros; Microscopía; Microfotografía; Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido

Trabajo de INTI
  
Ubicación: 3427; 676/I59/Ser.89
Disponibilidad: Consulta in situ



Tipo de Docum.: artículo
Título: Micrómetros a yunque diédrico
Autor: Goldes, León
Autor Instit.: Centro de Investigaciones y Servicios de Metrología de Córdoba. CISMEC. Córdoba. AR
Título Ser./Col.: Carta metrológica (2)1980
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI-Departamento de Física y Metrología. 1980.
Pág./Vol.: p.57-60, figs., tablas.
Unidad técnica: CISMEC; Departamento de Física y Metrología.
Descriptores:           Micrómetros; Instrumentos de medición

Trabajo de INTI
  
Ubicación: 5009
Disponibilidad: Consulta in situ



Fin

[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]