Término solicitado: NANOMETROLOGIA/(65)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Fortaleciendo capacidades de medición en el laboratorio costarricense de metrología |
Autor: | Álvarez, L.; Rojas Rapso, L. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
Pág./Vol.: | pag. varias: tbls.; fot. |
Unidad técnica: | INTI-Dirección Técnica de Metrología Física. |
Descriptores: | Metrología; Cooperación internacional; Transferencia de tecnología; Desarrollo; Mediciones; Calibración; Interferometría; Nanometrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Medición de desplazamientos nanométricos en polímeros piezoeléctricos usando método de descomposición en modos empíricos bivariados en patrones de speckle |
Autor: | Etchepareborda, Pablo; Veiras, Francisco; Bianchetti, Arturo; Federico, Alejandro; González, Martín Germán |
Título Ser./Col.: | Elektron, 3(1) |
Autor Inst. Ser./Col.: | Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería. FIUBA. Buenos Aires. Argentina |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. FIUBA. 2019. |
Pág./Vol.: | p. 52-57. |
Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
Descriptores: | Mediciones; Nanometrología; Polímeros electroactivos; Materiales piezoeléctricos; Piezoelectricidad |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
http://elektron.fi.uba.ar/index.php/elektron/article/view/76 |
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