Término solicitado: PARODI, M. B./(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia; artículo |
| Título: | Application of the Berreman effect to the characterization of TiO2 thin layers formed onto titanium substrates |
| Autor: | Parodi, M. B.; Rodríguez, L.; Pazos, L.; González Ruiz, J.; Paz Ramos, A.; Ybarra, G. |
| Autor Instit.: | INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires. AR; Centro Nacional de Investigaciones Científicas. La Habana. CU; Facultad de Química, Universidad de La Habana. La Habana. CU |
| Reunión: | International Congress on Metallurgy & Materials SAM/CONAMET 2011, 11, Rosario. AR, 2011 |
| Título Ser./Col.: | Procedia Materials Science, 1 ( 2012 ) 469 – 474 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. Elsevier. 2012. |
| Pág./Vol.: | 6p. |
| Unidad técnica: | INTI-Procesos Superficiales. |
| Descriptores: | Titanio; Dióxido de titanio; Películas delgadas; Recubrimientos superficiales; Espectroscopía; Espectros infrarrojos |
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