Término solicitado: BIERZYCHUDEK, M./(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Design and fabrication of high value standard resistors at INTI |
| Autor: | Bierzychudek, M.; Garcia, R.; Real, M.; Tonina, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Conference on precision electromagnetic measurements, Broomfield, Colorado. US, 2008 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2008. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Resistores; Resistencia eléctrica; Diseño; Normalización; Mediciones eléctricas |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | High resistance measurements with a two-terminal cryogenic current comparator |
| Autor: | Bierzychudek, M.; Tonina, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Conference on precision electromagnetic measurements, Washington. US, 2012 |
| Título Ser./Col.: | CPEM Digest, art. no. 6250957, pp. 372-373 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Resistencia eléctrica; Mediciones; Comparadores; Criogenia; Incertidumbre; Resistores |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Caracterización de muestras para el efecto Hall cuántico |
| Autor: | Real, M.; Tonina, A.; Bierzychudek, M. |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2010, Buenos Aires. AR, 2010 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2010. |
| Pág./Vol.: | p.176-177. |
| Notas: | Tema 06: Mayor confiabilidad de productos, P10052. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Resistencia eléctrica; Teoría cuántica; Bajas temperaturas; Metrología; Temperatura; Mediciones; Errores; Corriente eléctrica |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4648; 330.34/I59/2010 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
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