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Término solicitado: RESISTORES/(65,175,265)

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Tipo de Docum.:	artículo
Título:	*Comparación bilateral de resistencia de 1 Ω y 10 kΩ entre INIMET e INTI*
Autor:	Tonina, Alejandra; Currás, Martín; Navarro-González, Mirta Juana
Título Ser./Col.:	Boletín Científico Técnico INIMET, 1
Autor Inst. Ser./Col.:	Instituto Nacional de Investigaciones en Metrología. INIMET. Cuba
Idioma:	spa
Datos de Edición:	La Habana. CU. INIMET. 2014.
Pág./Vol.:	9p.
Descriptores:	Comparadores; Resistores; Patrones; Incertidumbre; Metrología
Resumen:	Una comparación entre dos resistencias patrones una de 1 Ω y otra de 10 kΩ fue realizada por los laboratorios de INTI (Argentina) e INIMET (Cuba). En este trabajo se reportamos la comparación donde se describe su importancia, procedimientos y resultados. Concluimos que los resultados de dicha comparación para ambos valores nominales y sus incertidumbres son satisfactorios según las incertidumbres de la comparación.
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Trabajo de INTI
URL:	*https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=223031231002*

Tipo de Docum.:	artículo
Título:	SIM.EM – S9b, 1 Ω and 10 kΩ : 2012 Resistance Bilateral Comparison between SIM/COOMET Laboratories. Comparison of Resistance Standards at 1 Ω and 10 kΩ between INIMET (Cuba) and INTI (Argentina)
Autor:	Tonina, A.; Currás, M.; Navarro, M.
Título Ser./Col.:	Metrología, 51
Autor Inst. Ser./Col.:	Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Paris. FR
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. IOP Publishing. 2014.
Pág./Vol.:	9p.
Descriptores:	Sistema Interamericano de Metrología; Metrología; Calibración; Patrones; Comparadores; Resistores
Resumen:	The CIPM MRA states that its technical basis is a set of results obtained in a course of time through key comparisons carried out by the Consultative Committees of the CIPM, the BIPM and the Regional Metrology Organizations (RMOs). As part of this process, INTI (Argentina) has participated in several key and supplementary comparisons. By means of procedures for linking key comparison data, a bilateral comparison would help to provide assurance of equality in measurements between the participating laboratories. With this end, the comparison SIM.EM-S9.b of 1 ohm and 10 kiloohm standard resistors of INIMET (Cuba) and INTI was carried out from March to October 2012. The obtained results were very good. They show that the resistance standards maintained by INTI and INIMET were equivalent, within their combined uncertainties, on the mean date of the comparison.
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Trabajo de INTI
URL:	*https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0026-1394/51/1A/01003*

Tipo de Docum.:	artículo
Título:	*SIM.EM – S10 : RMO Comparison final report. High value resistance comparison with twoterminal cryogenic current comparators*
Autor:	Bierzychudek, Marcos E.; Elmquist, Randolph; Hernández, Felipe
Título Ser./Col.:	Metrología, 51
Autor Inst. Ser./Col.:	Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Paris. FR
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. IOP Publishing. 2014.
Pág./Vol.:	36p.
Descriptores:	Sistema Interamericano de Metrología; Metrología; Calibración; Patrones; Comparadores; Resistores; Criogenia
Resumen:	This work presents a supplementary comparison of high value resistance standards performed during 2012 and January 2013, following the guidelines presented in a document about measurement comparisons in the CIPM MRA. The purpose of this task was to compare the high resistance cryogenic current comparator scaling of the participating institutes: National Institute of Standards and Technology, USA (NIST), Centro Nacional de Metrología, Mexico (CENAM) and Instituto Nacional de Tecnología Industrial, Argentina (INTI), all of which are members of the Sistema Interamericano de Metrología (SIM) Regional Metrology Organization. All the measurements of this comparison were performed with two-terminal cryogenic current comparators (CCC). Degrees of equivalence of the participating institutes relative to the comparison reference values are given in the report for the measured resistance values.
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Trabajo de INTI
URL:	*http://iopscience.iop.org/0026-1394/51/1A/01004*

Tipo de Docum.:	documento de conferencia
Título:	*Sistema potenciométrico de medición de resistencia de bajo valor y tensión continua*
Autor:	Real, M.A.; Bierzychudek, M.E.
Reunión:	TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12, Buenos Aires. AR, 2015
Idioma:	spa
Datos de Edición:	Buenos Aires. AR. INTI. 2015.
Pág./Vol.:	2p.
Unidad técnica:	INTI-Física y Metrología.
Descriptores:	Potenciómetros; Resistores
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*Resistores no lineales*
Autor Instit.:	Fábrica de Productos Electrónicos Sociedad Anónima. FAPESA. Buenos Aires. AR
Idioma:	spa
Datos de Edición:	Buenos Aires. AR. Edicient. 1976.
Pág./Vol.:	68p.
Descriptores:	Circuitos; Diseño de circuitos; Voltaje; Redes eléctricas; Tolerancia; Errores; Frecuencia; Resistores; Matrices; Interruptores eléctricos; Ecuaciones no lineales; Oscilaciones; Capacitores; Mediciones

Ubicación:	621.316/F126
Disponibilidad:	Préstamo

Tipo de Docum.:	Tesis de doctorado
Título:	*Control robusto de comparadores criogénicos de corriente*
Autor:	Bierzychudek, Marcos
Autor Instit.:	INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR
Idioma:	spa
Datos de Edición:	Buenos Aires. AR. INTI. 2016.
Pág./Vol.:	139p.
Notas:	Tutores: Dra. Alejandra Tonina, Dr. Ricardo Sánchez Peña.
Unidad técnica:	INTI-Física y Metrología.
Descriptores:	Comparadores; Criogenia; Resistores; Corriente eléctrica; Mediciones; Resistencia eléctrica; Control; Incertidumbre; Calibración
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	documento de conferencia
Título:	*Finding operating points in networks containing MOS transistors by a piecewise-linear approach*
Autor:	Jiménez-Fernández, Víctor M.; Julián, Pedro Marcelo; Agamenoni, Osvaldo; Di Federico, Martín; Hernández-Martínez, Luis; Samiento-Reyes, Arturo
Autor Instit.:	Universidad Nacional del Sur. Bahía Blanca. AR; INTI-Centro de Micro y Nano Electrónica del Bicentenario. CMNB. Buenos Aires. AR; Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica. INAOE. Puebla. MX
Reunión:	Unidad Académica Río Gallegos. Universidad Nacional de la Patagonia Austral. Río Gallegos. AR, Reunión de Trabajo en Procesamiento de la Información y Control, 12, Río Gallegos. AR, 2007
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. s.e. 2007.
Pág./Vol.:	6p.
Unidad técnica:	INTI-Centro de Micro y Nano Electrónica del Bicentenario.
Descriptores:	Transistores; Redes eléctricas; Resistores; Voltaje; Corriente continua
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	artículo; documento de conferencia
Título:	*Thick-film weldable strain gauges*
Autor:	Fraigi, L.; Malatto, L.
Autor Instit.:	INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR
Reunión:	EUROSENSORS VIII, European Conference on Solid-State Transducers, 8, Toulouse. FR, 1994
Título Ser./Col.:	Sensors and actuators A: Physical. Volume 46, Issues 1–3, January–February 1995, Pages 222–224
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. AR. Elsevier. 1995.
Pág./Vol.:	3p.
Unidad técnica:	INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores:	Extensómetros; Instrumentos de medición; Sensores; Películas gruesas; Soldabilidad; Resistores; Aceros inoxidables; Titanio
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	artículo
Título:	*Uncertainty evaluation in a two-terminal cryogenic current comparator*
Autor:	Bierzychudek, M.E.; Elmquist, R.E.
Autor Instit.:	INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR
Título Ser./Col.:	IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (2009), 4
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. US. IEEE. 2008.
Pág./Vol.:	6p.
Notas:	Este artículo puede ser consultado completo por usuarios internos al INTI.
Unidad técnica:	INTI-Física y Metrología.
Descriptores:	Resistencia eléctrica; Mediciones; Incertidumbre; Comparadores; Criogenia; Resistores
Trabajo de INTI

Ubicación:	4777
Disponibilidad:	Consulta in situ

Tipo de Docum.:	documento de conferencia
Título:	*Design and fabrication of high value standard resistors at INTI*
Autor:	Bierzychudek, M.; Garcia, R.; Real, M.; Tonina, A.
Autor Instit.:	INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR
Reunión:	Conference on precision electromagnetic measurements, Broomfield, Colorado. US, 2008
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. IEEE. 2008.
Pág./Vol.:	2p.
Notas:	Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta".
Unidad técnica:	INTI-Física y Metrología.
Descriptores:	Resistores; Resistencia eléctrica; Diseño; Normalización; Mediciones eléctricas
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	documento de conferencia
Título:	*High resistance measurements with a two-terminal cryogenic current comparator*
Autor:	Bierzychudek, M.; Tonina, A.
Autor Instit.:	INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR
Reunión:	Conference on precision electromagnetic measurements, Washington. US, 2012
Título Ser./Col.:	CPEM Digest, art. no. 6250957, pp. 372-373
Idioma:	eng
Datos de Edición:	s.l. US. IEEE. 2012.
Pág./Vol.:	2p.
Notas:	Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta".
Unidad técnica:	INTI-Física y Metrología.
Descriptores:	Resistencia eléctrica; Mediciones; Comparadores; Criogenia; Incertidumbre; Resistores
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Trabajo de INTI

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*CMOS; circuit design, loyout, and simulation*
Autor:	Baker, R. Jacob
Autor Instit.:	Institute of Electrical and Electronic Engineers. IEEE. New Jersey. US
Título Ser./Col.:	Series on microelectronic systems
Idioma:	eng
Datos de Edición:	2.e.. New Jersey. US. IEEE, Wiley-Interscience. 2008.
Pág./Vol.:	1038p.
Notas:	Ejemplar ubicado en el laboratorio de Mediciones y Calibraciones.
Descriptores:	Circuitos integrados digitales; Circuitos; Diseño; Layout; Simulación; Circuitos integrados analógicos; Voltaje; Análisis; Diodos; Frecuencia; Capacitores; Inductores eléctricos; Resistores; Energía; Metales; Corriente parásita; Conductividad electrica; Dieléctricos; Ruidos; Espectroscopía; Electricidad; Ecuaciones; Temperatura; Osciladores; Modulación; Señales; Amplificadores; Impedancia; Sistemas analógicos; Sistemas no lineales
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Ubicación:	CITEI/94
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*High-voltaje test techniques*
Autor:	Kind, Dieter; Feser, Kurt
Idioma:	eng
Datos de Edición:	2.ed.. Oxford, GB; Boston. US. Newnes. 2005.
Pág./Vol.:	308p.
Descriptores:	Alto voltaje; Técnicas de evaluación; Mediciones eléctricas; Circuitos; Transformadores; Performance; Capacitores; Impedancia; Electrostática; Resistores; Voltímetros; Voltaje; Calibración; Corriente eléctrica; Ensayos no destructivos; Puesta a tierra; Electrodos; Campo eléctrico; Líquidos; Sólidos; Ondas; Energía; Campo magnético

Ubicación:	FISICA/720
Disponibilidad:	INTI-Física y Metrología

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*Electrónica digital; fundamentos teóricos y técnica de circuitos*
Autor:	Dockter, F.; Steinhauer, J.
Título Ser./Col.:	Biblioteca técnica Philips
Idioma:	spa
Datos de Edición:	Madrid. ES. Paraninfo. 1977.
Pág./Vol.:	388p.
Descriptores:	Electrónica; Sistemas digitales; Circuitos; Procesamiento de datos; Mediciones; Registro de datos; Unidades aritméticas; Codificación; Informática; Números; Errores; Transmisión; Interferencia; Frecuencia; Aritmética binaria; Algebra; Conmutación; Variables; Métodos de cálculo; Ecuaciones; Funciones; Diseño; Límites; Señales; Transistores; Resistores; Diodos; Velocidad; Circuitos integrados; Tensiones; Corriente eléctrica; Temperatura; Tubos; Gases; Dimensiones; Películas delgadas; Semiconductores

Ubicación:	Electrónica/Comunicaciones/22
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	manual
Título:	*Handbook of thin film technology*
Autor:	Maissel, Leon I.. ed.; Glang, Reinhard. ed.
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York. US. McGraw-Hill book company. 1970.
Pág./Vol.:	pag.varía.
Descriptores:	Películas delgadas; Vacío; Evaporación; Aplicaciones; Condensación; Nucleación; Crecimiento de cristales; Propiedades; Propiedades mecánicas; Propiedades eléctricas; Propiedades dieléctricas; Piezoelectricidad; Piezoresistencia; Ferromagnetismo; Resistores; Capacitores; Magnetismo; Superconductividad; Circuitos integrados

Ubicación:	Electrónica/Comunicaciones/105/H-4
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	monografía
Título:	*Trabajo profesional de ingeniería electrónica (66.99); sistema de transferencia de alta exactitud de la referencia en resistencia Hall cuántica*
Autor:	Guevara, Guillermo Raúl
Idioma:	spa
Datos de Edición:	s.l. AR. s.e. 2005.
Pág./Vol.:	248p.
Notas:	Tutores: Iuzzolino, Ricardo (INTI); Tonina, Alejandra (INTI); Reiser, Miguel (FIUBA).
Descriptores:	Electrónica; Resistencia eléctrica; Incertidumbre; Potenciometría; Errores; Corriente parásita; Corriente eléctrica; Voltímetros; Interferencia; Electromagnetismo; Productos; Calidad; Planificación; Programación; Diseño; Hardware; Diagramas; Circuitos; Comunicaciones; Simulación; Técnicas de evaluación; Mediciones; Resistores; Aleaciones; Humedad; Temperatura; Cables; Voltímetros; Software; Computadoras; Prototipos; Confiabilidad; Optimización

Ubicación:	621.38/G939
Disponibilidad:	Préstamo

Tipo de Docum.:	manual
Título:	*Handbook of sensors and actuators; vol.1: thick film sensors*
Autor:	Prudenziati, M.. ed.; Middelhoek, S.. ed.
Idioma:	eng
Datos de Edición:	Amsterdam, NL; Lausanne. CH. Elsevier. 1994.
Pág./Vol.:	471p.
Descriptores:	Sensores; Actuadores; Películas gruesas; Materiales; Estructuras; Resistores; Dieléctricos; Sensores térmicos; Termistores; Termómetros; Criogenia; Temperatura; Mecánica; Piezorresistencia; Piezoelectricidad; Magnetorresistencia; Sensores químicos; Sensores de gases; Sólidos; Iones; Semiconductores; Gases; Líquidos; Radiación; Superconductores; Mediciones

Ubicación:	Electrónica/A-77
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	manual
Título:	*The benchtop electronics reference manual*
Autor:	Veley, Victor F.C.
Idioma:	eng
Datos de Edición:	3.ed.. New York. US. TAB book. 1994.
Pág./Vol.:	729p.
Descriptores:	Electrónica; Sistema Internacional de Unidades; Carga; Fuerza electromotriz; OHM; Resistencia electrica; Conductividad electrica; Temperatura; Resistores; Códigos de color; Voltaje; Circuitos; Potenciometría; Reostato; Procesos de transferencia; Análisis; Magnetismo; Campo magnético; Permeabilidad; Electromagnetismo; Inductancia; Energía; Inductores eléctricos; Tiempo; Capacitancia; Capacitores; Circuitos integrados; Voltímetros; Rayos catódicos; Ondas; Radiofrecuencia; Sólidos; Diodos; Transistores; Amplificadores; Semiconductores; Tubos; Triodos; Dinámica; Feedback; Cátodos; Antenas; Piezoelectricidad; Televisión; Microondas; Guía de ondas; Impedancia; Matemática; Ecuaciones lineales; Matrices; Ecuaciones; Gráficos; Trigonometría; Funciones; Logaritmos; Cálculo integral; Aritmética binaria; Algebra de Boole; Operaciones aritméticas

Ubicación:	Electrónica/F-18
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*The art of analog Layout*
Autor:	Hastings, Alan
Idioma:	eng
Datos de Edición:	2.ed.. New Jersey. US. Pearson Prentice Hall. 2006.
Pág./Vol.:	648p.
Descriptores:	Layout; Dispositivos; Semiconductores; Uniones; Diodos; Transistores; Fabricación; Silicio; Litografía; Oxidos; Iones; Resistores; Fallas mecánicas; Voltaje; Electricidad; Contaminación ambiental; Capacitores; Condensadores; Inductores eléctricos; Resistencia eléctrica
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Ubicación:	621.38/H357
Disponibilidad:	Préstamo

Tipo de Docum.:	libro
Título:	*Switched capacitor circuits*
Autor:	Allen, Phillip E.; Sánchez Sinencio, Edgar
Título Ser./Col.:	Electrical/Computer Science and Engineering Series
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York. US. Reinhold. 1984.
Pág./Vol.:	759p.
Descriptores:	Capacitores; Circuitos; Señales; Transformaciones de Laplace; Procesamiento de señales; Resistores; Filtros; Simulación; Convertidores digital-analógico

Ubicación:	Electrónica/Comunicaciones/12
Disponibilidad:	INTI-Electrónica e Informática

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