Término solicitado: SISTEMAS NO LINEALES/(65,175,265)
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Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Sistemas lineales de control: análisis y diseño convencional y moderno |
Autor: | D´Azzo, John J.; Houpis, Constantine H. |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Madrid. ES. Paraninfo. 1977. |
Pág./Vol.: | 751p. |
Descriptores: | Sistemas lineales; Análisis; Métodos de análisis; Álgebra; Ecuaciones diferenciales; Transformaciones de Laplace; Frecuencia; Control de procesos; Aplicaciones; Sistemas no lineales |
Ubicación: | 681.3/D277 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Introducción a la teoría de vibraciones mecánicas |
Autor: | Lafita Babio, Felipe; Mata Cortés, Hilario |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Barcelona. ES. Labor. 1968. |
Pág./Vol.: | 283p. |
Descriptores: | Vibraciones; Propiedades mecánicas; Mecánica; Sistemas lineales; Sistemas no lineales; Movimiento; Amortiguación; Amortiguadores; Instrumentos de medición; Dinámica; Cuerdas; Vigas; Torsión; Flexión; Ecuaciones integrales; Cálculo matricial; Ecuaciones; Membranas; Placas; Métodos de cálculo; Frecuencia; Ecuaciones diferenciales; Fuerza; Transformaciones de Laplace; Análisis de Fourier; Circuitos; Elasticidad; Cálculo matemático; Funciones; Análisis de funciones; Variables |
Ubicación: | 531.14/L164 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | CMOS; circuit design, loyout, and simulation |
Autor: | Baker, R. Jacob |
Autor Instit.: | Institute of Electrical and Electronic Engineers. IEEE. New Jersey. US |
Título Ser./Col.: | Series on microelectronic systems |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.e.. New Jersey. US. IEEE, Wiley-Interscience. 2008. |
Pág./Vol.: | 1038p. |
Notas: | Ejemplar ubicado en el laboratorio de Mediciones y Calibraciones. |
Descriptores: | Circuitos integrados digitales; Circuitos; Diseño; Layout; Simulación; Circuitos integrados analógicos; Voltaje; Análisis; Diodos; Frecuencia; Capacitores; Inductores eléctricos; Resistores; Energía; Metales; Corriente parásita; Conductividad electrica; Dieléctricos; Ruidos; Espectroscopía; Electricidad; Ecuaciones; Temperatura; Osciladores; Modulación; Señales; Amplificadores; Impedancia; Sistemas analógicos; Sistemas no lineales |
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Ubicación: | CITEI/94 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | System identification; theory for the user |
Autor: | Ljung, Lennart |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.e.. New Jersey. US. Prentice Hall. 2007. |
Pág./Vol.: | 609p. |
Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Sistemas lineales; Frecuencia; Espectros; Señales; Simulación; Modelos matemáticos; Tiempo real; Sistemas no lineales; Análsis de Fourier; Espectroscopía; Propiedades; Errores; Computación; Algoritmos; Procesamiento de datos; Diseño; Análisis |
Ubicación: | 621.3.018/L774; FISICA/731 |
Disponibilidad: | INTI-Física y Metrología |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Fundamentals of electron devices |
Autor: | Spangenberg, Karl R. |
Título Ser./Col.: | Electrical and electronic engineering series |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York, US; Toronto, CA; London. GB. McGraw-Hill. 1957. |
Pág./Vol.: | 505p. |
Notas: | Donación de Ing. Rubén Zeida. |
Descriptores: | Electrones; Iones; Campo eléctrico; Campo magnético; Vacío; Atomos; Conductores eléctricos; Semiconductores; Diodos; Tubos; Transistores; Circuitos; Señales; Amplicadores; Osciladores; Sistemas no lineales; Fotoelectricidad; Ruido |
Ubicación: | 621.382/S735 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | congreso |
Reunión: | Organizaciones de las Naciones Unidas para la Educación, la Ciencia y la Cultura. UNESCO. Paris. FR, International conference on the physics of semiconductors, 7, Paris. FR, 1964 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Paris. FR. Dunod. 1964. |
Pág./Vol.: | 1368. |
Notas: | Donación de Ing. Rubén Zeida. |
Descriptores: | Semiconductores; Energía; Electrones; Cristales; Cristalografía; Gases; Mediciones; Propiedades magnéticas; Campo magnético; Transistores; Resonancia; Tensiones; Propiedades ópticas; Sistemas no lineales; Temperatura; Campo eléctrico; Germanio; Energía; Fotoelectricidad; Magnetismo; Transporte; Piezorresistencia; Conductividad eléctrica; Electrones; Piezoelectricidad; Diodos; Magnetorresistencia; Termoelectricidad; Espectros; Microondas; Bajas temperaturas; Fotones; Propiedades electricas; Radiación |
Ubicación: | 621.382/I61 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Electronic measurements and instrumentation |
Autor: | Oliver, Bernard M.. ed.; Cage, John M.. ed. |
Título Ser./Col.: | Inter-University electronics series, 12 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. McGraw-Hill. 1971. |
Pág./Vol.: | 729p. |
Descriptores: | Mediciones electrónicas; Instrumentos de medición; Unidades de medición; Ondas; Sistemas lineales; Matemática; Mediciones; Sistemas no lineales; Ruido; Mediciones acústicas; Señales; Sistemas digitales; Análisis de Fourier; Frecuencia; Tiempo; Amplificadores; Voltaje; Impedancia; Radiofrecuencia; Mediciones de presión; Osciladores; Osciloscopios; Rayos catódicos; Registradores; Video; Performance; Modulación; Microondas; Transistores; Sólidos; Electromagnetismo; Análisis; Voltaje |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/107/E-9 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Rheology; principles, measurements, and applications |
Autor: | Makosco, Christopher W. |
Título Ser./Col.: | Advances in interfacial engineering series |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. VCH. 1993. |
Pág./Vol.: | 550p. |
Descriptores: | Reología; Mediciones; Elasticidad; Sólidos; Tensiones; Presión; Deformación; Formas tridimensionales; Energía; Viscosidad; Líquidos; Modelos; Temperatura; Viscoelasticidad; Errores; Sistemas no lineales; Ecuaciones; Reómetros; Geometría; Diseño; Optica; Aplicaciones; Suspensiones; Fluidos; Electrostática; Polímeros; Dispersión |
Ubicación: | 532.135/M171 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Finite elements in fluids |
Autor: | Gallagher, R.H.. ed.; Oden, J.T.. ed.; Taylor, C.. ed.; Zienkiewicz, O.C.. ed. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Chichester, GB; New York, US; Toronto. CA. Wiley. 1978, 1982. |
Pág./Vol.: | v.2, v.4. |
Notas: | V.2: Mathematical foundations, aerodynamics and lubrication. |
Descriptores: | Elementos finitos; Fluidos; Matemática; Aerodinámica; Lubricación; Sistemas no lineales; Algoritmos; Ecuaciones integrales; Difusión; Análisis matemático; Ondas; Computación; Modelos matemáticos; Variables; Hidrodinámica; Agua; Densidad; Soluciones; Análisis de Fourier; Reservorios; Saturación; Materiales porosos; Análisis volumétrico; Transferencia de calor; Polímeros; Convección del calor; Mecánica de los fluidos; Ecuaciones de Navier-Stokes; Performance; Formas tridimensionales; Turbomotores; Plasma; Acústica |
Ubicación: | Construcciones/65; Construcciones/66; Fluidos-Viento/E31-C2 |
Disponibilidad: | INTI-Construcciones |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Principles of measurement systems |
Autor: | Bentley, John P. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.ed.. Harlow. GB. Longman Scientific & Technical. 1988. |
Pág./Vol.: | 503p. |
Descriptores: | Mediciones; Tolerancia; Calibración; Normas; Evaluación; Errores; Sistemas no lineales; Señales; Amplificadores; Transmisores; Microcomputadoras; Layout; Mediciones ópticas; Cromatografía de gases |
Ubicación: | Electrónica/G-20 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Experiments with operational amplifiers: learning by doing |
Autor: | Clayton, George B. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | London. GB. Macmillan. 1978. |
Pág./Vol.: | 130p. |
Descriptores: | Amplificadores; Circuitos; Electrónica; Aplicaciones; Sistemas no lineales; Transistores |
Ubicación: | 621.375.4/C5795 |
Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Ferroelectrics and related materials |
Autor: | Smolenskii, G.A.. ed.; Bokov, V.A.; Isupov, V.A.; Krainik, N.N.; Pasynkov, R.E.; Sokolov, A.I. |
Título Ser./Col.: | Ferroelectricity and related phenomena, v.3 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York, US; London, GB; Paris, FR; Montreux, CH; Tokyo. JP. Gordon and Breach Science. 1984. |
Pág./Vol.: | 763p. |
Descriptores: | Ferroelectricidad; Materiales ferroeléctricos; Estructura cristalina; Cristales; Propiedades termodinámicas; Transformaciones de fase; Electromecánica; Simetría; Microscopía; Fluctuaciones; Polarización; Propiedades dieléctricas; Acústica; Piezoelectricidad; Elasticidad; Electroacústica; Eco; Optoelectrónica; Propiedades ópticas; Sistemas no lineales; Magnetismo; Oxígeno; Clasificación |
Ubicación: | Electrónica/E-5 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | System identification; theory for the user |
Autor: | Ljung, Lennart |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.ed.. New Jersey. US. Prentice Hall. 2007. |
Pág./Vol.: | 609p. |
Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Sistemas lineales; Frecuencia; Espectros; Señales; Simulación; Modelos matemáticos; Tiempo real; Sistemas no lineales; Análisis de Fourier; Espectroscopía; Propiedades; Errores; Computación; Algoritmos; Procesamiento de datos; Diseño; Análisis |
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Ubicación: | 621.3.018/L774; FISICA/731 |
Disponibilidad: | INTI-Física y Metrología |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Fundamentals of electron devices |
Autor: | Spangenberg, Karl R. |
Título Ser./Col.: | Electrical and electronic engineering series |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York, US; Toronto, CA; London. GB. McGraw-Hill. 1957. |
Pág./Vol.: | 505p. |
Notas: | Donación: Ing. Rubén Zeida. |
Descriptores: | Dispositivos electrónicos; Electrones; Iones; Campo eléctrico; Campo magnético; Vacío; Atomos; Conductores eléctricos; Semiconductores; Diodos; Tubos; Transistores; Circuitos; Señales; Amplificadores; Osciladores; Sistemas no lineales; Fotoelectricidad; Ruido |
Ubicación: | 621.382/S735 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | congreso |
Título: | Physique des semiconducteurs; comptes rendus; Physics of semiconductors; proceedings |
Reunión: | Organizaciones de las Naciones Unidas para la Educación, la Ciencia y la Cultura. UNESCO. Paris. FR, Congrès international sur physique des semiconducteurs, 7, International conference on the physics of semiconductors, 7, Paris. FR, 1964 |
Idioma: | eng; fra |
Datos de Edición: | Paris. FR. Dunod. 1964. |
Pág./Vol.: | 1368p. |
Notas: | Donación: Ing. Rubén Zeida. |
Descriptores: | Semiconductores; Energía; Electrones; Cristales; Cristalografía; Gases; Mediciones; Propiedades magnéticas; Campo magnético; Transistores; Resonancia; Tensiones; Propiedades ópticas; Sistemas no lineales; Temperatura; Campo eléctrico; Germanio; Energía; Fotoelectricidad; Magnetismo; Transporte; Piezorresistencia; Conductividad eléctrica; Electrones; Piezoelectricidad; Diodos; Magnetorresistencia; Termoelectricidad; Espectros; Microondas; Bajas temperaturas; Fotones; Propiedades eléctricas; Radiación |
Ubicación: | 621.382/I61 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Électronique des impulsions; tome III: les générateurs d'impulsions |
Autor: | Vabre, Jean Paul |
Título Ser./Col.: | Les techniques de base de l'informatique |
Idioma: | fra |
Datos de Edición: | Paris. FR. Masson. 1970. |
Pág./Vol.: | 383p. |
Notas: | Donación: Ing. Rubén Zeida. |
Descriptores: | Electrónica; Física; Aislación; Comunicaciones; Emisores; Receptores; Ruido; Códigos-comunicaciones; Modulación; Señales; Video; Televisión; Instrumentos de medición; Circuitos; Sistemas lineales; Sistemas no lineales; Frecuencia; Impedancia; Amplificadores; Transistores |
Ubicación: | 621.38/V111 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Nonlinear fracture and damage mechanics |
Autor: | Aliabadi, M.H.. ed. |
Título Ser./Col.: | Advances in fracture mechanics, 4 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Boston. US. Witpress. 2001. |
Pág./Vol.: | 248p. |
Descriptores: | Fractura de materiales; Fractomecánica; Sistemas no lineales; Fisuras; Análisis estructural; Tensiones; Paneles; Modelos; Mediciones; Sistemas no lineales; Análisis; Microestructuras; Fragilidad; Materiales |
Ubicación: | Mecánica/147/Tecnol. de la Fundición/Edif. |
Disponibilidad: | INTI-Mecánica |
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