Término solicitado: MULTIPROCESADORES/(65,175,265)
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Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Digital signal processing applications using the ADSP-2100 family |
Autor: | Mar, Amy. ed. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Englewood Cliffs. US. Prentice Hall. 1990. |
Pág./Vol.: | 611p. |
Descriptores: | Señales digitales; Procesamiento de señales; Aplicaciones; Programación; Arquitectura de computadoras; Aritmética; Dimensiones; Procesamiento de imágenes; Filtros digitales; Hardware; Gráficos; Computación; Normalización; Performance; Codificación; Algoritmos; Frecuencia; Memoria de computadoras; Interfases; Software; Multiprocesadores; Microprocesadores |
Ubicación: | Electrónica/F-47 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | congreso |
Reunión: | Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. Nueva Jersey. US, IEEE International on-line testing symposium, Sesimbra. PT, 2009 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Nueva Jersey. US. IEEE. 2009. |
Pág./Vol.: | 277p. |
Descriptores: | Circuitos; Conductividad térmica; Semconductores; Técnicas de evaluación; Fallas; Medidas de seguridad; Microprocesadores; Multiprocesadores; Radiación |
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Ubicación: | Electrónica/1 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Sistemas multiprocesadores |
Autor: | Gomez Pedráz, S.; Alvarez Sanz, E.; Angulo Usategui, J. M. |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Madrid. ES. Paraninfo. 1988. |
Pág./Vol.: | 248p. |
Descriptores: | Multiprocesadores; Computadoras; Arquitectura de computadoras; Memoria de computadoras; Programas de entrada y salida; Sistemas operativos; Algoritmos |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/2 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | congreso |
Título: | Paper |
Autor: | Gizopoulos, D.. ed.; Chatterjee, A.. ed.; Nicolaidis, M.. ed.; Santos, M.. ed. |
Reunión: | Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. Nueva Jersey. US, IEEE International on-line testing symposium, 15, IOLTS 2009, Sesimbra. PT, 2009 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Nueva Jersey. US. IEEE. 2009. |
Pág./Vol.: | 277p. |
Descriptores: | Circuitos; Monitoreo; Seguridad; Mediciones; Conductividad térmica; Semiconductores; Técnicas de evaluación; Fallas; Medidas de seguridad; Detectores; Errores; Microprocesadores; Multiprocesadores; Tolerancia; Radiación; Ensayos; Sensores remotos |
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Ubicación: | Electrónica/1 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
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