Término solicitado: SEMCONDUCTORES/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | congreso |
| Reunión: | Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. Nueva Jersey. US, IEEE International on-line testing symposium, Sesimbra. PT, 2009 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Nueva Jersey. US. IEEE. 2009. |
| Pág./Vol.: | 277p. |
| Descriptores: | Circuitos; Conductividad térmica; Semconductores; Técnicas de evaluación; Fallas; Medidas de seguridad; Microprocesadores; Multiprocesadores; Radiación |
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| Ubicación: | Electrónica/1 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica |
Fin
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