Término solicitado: BOLZANI POEHLS, LETICIA MARIA/(22)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | A test platform for dependability analysis of SoCs exposed to EMI and radiation |
| Autor: | Benfica, Juliano; Bolzani Poehls, Leticia Maria; Vargas, Fabian; Lipovetzky, José; Lutenberg, Ariel; Gatti, Edmundo; Hernandez, Fernando |
| Autor Instit.: | Universidad de Buenos Aires.Facultad de Ingeniería. UBA. Buenos Aires. AR; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Springer. 2012. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Interferencia; Electromagnetismo; Radiación ionizante |
| Ubicación: | 4760 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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