Término solicitado: HERNANDEZ, FERNANDO/(22)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | A test platform for dependability analysis of SoCs exposed to EMI and radiation |
| Autor: | Benfica, Juliano; Bolzani Poehls, Leticia Maria; Vargas, Fabian; Lipovetzky, José; Lutenberg, Ariel; Gatti, Edmundo; Hernandez, Fernando |
| Autor Instit.: | Universidad de Buenos Aires.Facultad de Ingeniería. UBA. Buenos Aires. AR; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Springer. 2012. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Interferencia; Electromagnetismo; Radiación ionizante |
| Ubicación: | 4760 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Evaluating the effects of combined total ionizing dose radiation and electromagnetic interference |
| Autor: | Benfica, Juliano; Bolzani Poehls, Leticia M.; Vargas, Fabian; Lipovetzky, José; Lutenberg, Ariel; García, Sebastián E.; Gatti, Edmundo; Hernández, Fernando |
| Autor Instit.: | Catholic University of Rio Grande do Sul. Porto Alegre. BR; Universidad de Buenos Aires. UBA. Buenos Aires. AR; INTI- Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Universidad Ort. Montevideo. UY |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | p.1015-1019. |
| Notas: | Este artículo puede ser consultado completo por usuarios internos al INTI. |
| Unidad técnica: | INTI- Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Electromagnetismo; Radiación ionizante; Sistemas embebidos; Interferencia |
URL: |
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=06190732 |
| Ubicación: | 4755 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Calidad -EMI, EMC |
| Autor: | Hernández, Fernando |
| Autor Instit.: | IIE. UY |
| Reunión: | Centro de Investigación en Electrónica e Informática. CITEI, Instituto de Microelectrónica del CIT, Red Temática sobre Calidad y Aplicaciones de la Microelectrónica, Seminario sobre calidad en microelectrónica y sus aplicaciones, 1, Seminario sobre calidad en microelectrónica y sus aplicaciones, 2, Buenos Aires. AR, Campinas-San Pablo. BR, 19941995 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-CITEI. 1995. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | CITEI. |
| Descriptores: | Calidad; Microelectrónica; Componentes electrónicos; Equipos electrónicos |
Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 3904 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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