Término solicitado: CAFFEY, JARED R./(22)
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| Tipo de Docum.: | informe; tesis |
| Título: | The effects of ionizing radiationon microelectromechanical systems (MEMS) actuator: electrostatic, electrothermal and residual stress |
| Autor: | Caffey, Jared R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Ohio. US. AFIT. 2003. |
| Pág./Vol.: | pag.varía. |
| Descriptores: | Radiación ionizante; Microelectrónica; Mecánica; Actuadores; Electrostática; Tensiones; Radiación; Reactores nucleares; Fotones; Semiconductores; Diseño; Imágenes; Rayos X; Rayos gamma; Energía |
| Ubicación: | Electrónica/Microsistemas/4 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
| Tipo de Docum.: | tesis |
| Título: | The effects of ionizing radiationon microelectromechanical systems (MEMS) actuator: electrostatic, electrothermal and residual stress |
| Autor: | Caffey, Jared R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Ohio. US. AFIT. 2003. |
| Pág./Vol.: | pag.varía. |
| Descriptores: | Radiación ionizante; Microelectrónica; Mecánica; Actuadores; Electrostática; Tensiones residuales; Radiación; Reactores nucleares; Fotones; Semiconductores; Diseño; Imágenes; Rayos X; Rayos gamma; Energía |
| Ubicación: | Electrónica/Microsistemas/4 |
| Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
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