Término solicitado: HENZE, A./(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Nuevo método para el cálculo de incertidumbre por mismatch en la medición de potencia en RF |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2013. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Incertidumbre; Mediciones; Potencia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI |
| Autor: | Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Instituto Nacional de Metrologia, Calidad y Tecnología. InMetro. Río de Janeiro. BR, SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | s.l. s.n. 2013. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Frecuencia; Dispersión; Microondas; Incertidumbre; Reflexión; Calibración; Instrumentos de medición; Metrología |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Multivariate statistics applied to assess measurement uncertainty of complex reflection coefficient |
| Autor: | Benjamín, M.; Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2014 (pp. 18-19), Rio de Janeiro. BR, 2014 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2014. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Técnicas estadísticas; Errores; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Design and manufacture of a directional coupler in LTCC |
| Autor: | Lozano, A.; Fernández, J.; Roberti, M.; Henze, A.; Gavini, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; INVAP. Bariloche. AR |
| Reunión: | Congreso Iberoamericano de Sensores, Ibersensor 2006, Montevideo. UY, 2006 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2006. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Acoplamientos; Dispositivos electrónicos; Materiales cerámicos; Híbridos; Microondas; Diseño; Fabricación |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | informe |
| Título: | Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 1 |
| Autor: | Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-Electrónica e Informática. 2011. |
| Pág./Vol.: | 14p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia; Transmisión; Probabilidades |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Corrección del mismatch e incertidumbre asociada en la medición de potencia en RF |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro. MX, Simposio de Metrología 2012, Querétaro. MX, 2012 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Querétaro. MX. CENAM. 2012. |
| Pág./Vol.: | 6p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Potencia; Radiofrecuencia; Calibración; Sensores; Variancia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | monografía |
| Título: | Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 2 |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G.uillermo; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-Electrónica e Informática. 2012. |
| Pág./Vol.: | 23p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Mismatch; Métodos de cálculo; Validación; Variancia; Radiofrecuencia; Incertidumbre; Generadores eléctricos; Potencia; Mediciones; Medidores; Sensores; Atenuadores |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Acoplador híbrido con tecnología LTCC |
| Autor: | Lozano, A.; Roberti, M.; Henze, A.; Gavini, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Electrónica, desarrollo e innovación, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2007 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2007. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Acoplamientos; Microondas; Señales; Amplitud; Nivel sonoro; Dispositivos electrónicos; Potencia; Películas gruesas |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | PEI/2 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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