Término solicitado: MONASTERIOS, G./(22)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Final report : key vomparison SIM.EM.RF-K5b.CL. scattering coefficients by broad-band methods. 2 GHz - 18 GHz - type N connector |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G. |
| Título Ser./Col.: | Metrología, 53 |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Paris. FR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IOP Publishing. 2016. |
| Pág./Vol.: | 105p. |
| Descriptores: | Sistema Interamericano de Metrología; Dispersión; Banda ancha; Frecuencia; Microondas; Metrología; Mediciones; Frecuencímetros |
| Resumen: | The first key comparison in microwave frequencies within the SIM (Sistema Interamericano de Metrología) region has been carried out. The measurands were the S-parameters of 50 ohm coaxial devices with Type-N connectors and were measured at 2 GHz, 9 GHz and 18 GHz. SIM.EM.RF-K5b.CL was the identification assigned and it was based on a parent CCEM key comparison named CCEM.RF-K5b.CL. For this reason, the measurements standards and their nominal values were selected accordingly, i.e. two one-port devices (a matched and a mismatched load) to cover low and high reflection coefficients and two attenuators (3dB and 20 dB) to cover low and high transmission coefficients. This key comparison has met the need for ensuring traceability in high-frequency measurements across America by linking SIM's results to CCEM. Six NMIs have participated in this comparison which was piloted by the Instituto Nacional de Tecnología Industrial (Argentina). A linking method of multivariate values was proposed and implemented in order to allow the linking of 2-dimensional results. |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0026-1394/53/1A/01010 |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Nuevo método para el cálculo de incertidumbre por mismatch en la medición de potencia en RF |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2013. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Incertidumbre; Mediciones; Potencia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI |
| Autor: | Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Instituto Nacional de Metrologia, Calidad y Tecnología. InMetro. Río de Janeiro. BR, SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | s.l. s.n. 2013. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Frecuencia; Dispersión; Microondas; Incertidumbre; Reflexión; Calibración; Instrumentos de medición; Metrología |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Multivariate statistics applied to assess measurement uncertainty of complex reflection coefficient |
| Autor: | Benjamín, M.; Silva, H.; Monasterios, G.; Tempone, N.; Henze, A. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2014 (pp. 18-19), Rio de Janeiro. BR, 2014 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2014. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Técnicas estadísticas; Errores; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | informe |
| Título: | Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 1 |
| Autor: | Monasterios, G.; Silva, H.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-Electrónica e Informática. 2011. |
| Pág./Vol.: | 14p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Radiofrecuencia; Transmisión; Probabilidades |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Corrección del mismatch e incertidumbre asociada en la medición de potencia en RF |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G.; Henze, A.; Tempone, N. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro. MX, Simposio de Metrología 2012, Querétaro. MX, 2012 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Querétaro. MX. CENAM. 2012. |
| Pág./Vol.: | 6p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Mismatch; Mediciones; Incertidumbre; Potencia; Radiofrecuencia; Calibración; Sensores; Variancia |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | informe |
| Título: | Technical protocol: key comparison SIM.EM.RF-K5b.CL; scattering coefficients by broad-band methods 2 GHz - 18 GHz - Type N connector |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-Electrónica e Informática. 2012. |
| Pág./Vol.: | 16p. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Sistema Interamericano de Metrología; Mediciones; Metrología; Radiofrecuencia; Frecuencia; Conectores; Normas; Dispositivos electrónicos; Incertidumbre; Covariancia |
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Trabajo de INTI |
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