Término solicitado: FRECUENCIMETROS/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Final report : key vomparison SIM.EM.RF-K5b.CL. scattering coefficients by broad-band methods. 2 GHz - 18 GHz - type N connector |
| Autor: | Silva, H.; Monasterios, G. |
| Título Ser./Col.: | Metrología, 53 |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Paris. FR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IOP Publishing. 2016. |
| Pág./Vol.: | 105p. |
| Descriptores: | Sistema Interamericano de Metrología; Dispersión; Banda ancha; Frecuencia; Microondas; Metrología; Mediciones; Frecuencímetros |
| Resumen: | The first key comparison in microwave frequencies within the SIM (Sistema Interamericano de Metrología) region has been carried out. The measurands were the S-parameters of 50 ohm coaxial devices with Type-N connectors and were measured at 2 GHz, 9 GHz and 18 GHz. SIM.EM.RF-K5b.CL was the identification assigned and it was based on a parent CCEM key comparison named CCEM.RF-K5b.CL. For this reason, the measurements standards and their nominal values were selected accordingly, i.e. two one-port devices (a matched and a mismatched load) to cover low and high reflection coefficients and two attenuators (3dB and 20 dB) to cover low and high transmission coefficients. This key comparison has met the need for ensuring traceability in high-frequency measurements across America by linking SIM's results to CCEM. Six NMIs have participated in this comparison which was piloted by the Instituto Nacional de Tecnología Industrial (Argentina). A linking method of multivariate values was proposed and implemented in order to allow the linking of 2-dimensional results. |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0026-1394/53/1A/01010 |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | The measurement of time; time, frequency and the atomic clock |
| Autor: | Audoin, Claude; Guinot, Bernard |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Cambridge. GB. Cambridge University Press. 2001. |
| Pág./Vol.: | 335p. |
| Descriptores: | Mediciones; Tiempo; Frecuencia; Relojes; Instrumentos de medición; Frecuencímetros; Osciladores; Piezoelectricidad; Resonadores; Oscilaciones; Rotación; Metrología; Patrones; Gravedad; Interferometría; Interferómetros; Telecomunicaciones |
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| Ubicación: | Metrología, Micro y Nanotecnología/1 |
| Disponibilidad: | INTI-Dirección para la Transferencia en Metrología, Micro y Nanotecnología y Nuevos Materiales |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Signal integrity issues and printed circuit board design |
| Autor: | Brooks, Douglas |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New Jersey. US. Prentice Hall. 2003. |
| Pág./Vol.: | 403p. |
| Descriptores: | Diseño de circuitos; Circuitos; Microelectrónica; Señales; Electrónica; Voltaje; Frecuencia; Frecuencímetros; Análisis de Fourier; Propagación de ondas; Componentes electrónicos; Resistencia eléctrica; Inductancia; Reactancia; Capacitancia; Impedancia; Interferencia; Electromagnetismo; Reflexión; Líneas de transmisión; Simulación; Capacitores; Absorción |
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| Ubicación: | 621.382/B873 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | guía |
| Título: | Procedimiento TF-002 para la calibración de frecuencímetros |
| Autor Instit.: | Centro Español de Metrología. CEM. Madrid. ES |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Madrid. ES. CEM. s.f. |
| Pág./Vol.: | 52p. |
| Descriptores: | Calibración; Instrumentos de medición; Tiempo; Frecuencia; Frecuencímetros; Procesamiento de datos; Incertidumbre |
| Ubicación: | 53.083/C397/TF-002 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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