Término solicitado: INTERFEROMETROS/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Calibración de sistema láser interferométrico para medición de distancias |
| Autor: | Mingolla, M. G.; Campbell, J.; Bastida, K. B. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
| Pág./Vol.: | Pag. varias: il.; fot. |
| Unidad técnica: | INTI-Departamento de Óptica y Dimensional. |
| Descriptores: | Metrología física; Láser; Interferómetros; Distancia; Mediciones; Calibración; Incertidumbre |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Actualización del interferómetro NPL-TESA AGI 1/300 |
| Autor: | Díaz, N.; Iuzzolino, R.; Álvarez, L. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
| Pág./Vol.: | pag. varias: tbls.; fot. |
| Unidad técnica: | INTI-Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-Departamento de Metrología Cuántica. |
| Descriptores: | Interferómetros; Modernización; Software; Instrumentos de medición; Metrología; Sistema Internacional de Unidades; Patrones |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Validación de mediciones interferométricas con sistema Kösters en 100mm y 300mm |
| Autor: | Álvarez, L.; Beer, E.; Bastida, K. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Interferometría; Interferómetros; Mediciones |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Estimación de incertidumbres en el procesamiento digital de imágenes, asociada a la medición interferométrica de desvío de planitud |
| Autor: | Yapur, F.; Alvarez, L.; Bastida, K. |
| Título Ser./Col.: | Anales AFA, 24(1) |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Asociación Física Argentina. AFA. Argentina |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Villa Carlos Paz. AR. AFA. 2013. |
| Pág./Vol.: | p. 47-50. |
| Descriptores: | Incertidumbre; Mediciones ópticas; Procesamiento de imágenes; Imágenes digitales; Interferometría; Interferómetros; Metrología |
| Resumen: | El método de medición de desvío de planitud consiste en la comparación entre una superficie de referencia o patrón y la superficie de prueba a calibrar. En INTI – Física y Metrología, esta medición se realiza utilizando un interferómetro de Fizeau y con el objeto de automatizar el método de calibración, se diseñó una rutina basada en procesamiento digital de imágenes. En este trabajo se presenta un estudio estadístico aplicando método de Monte Carlo que permite analizar las incertidumbres y la repetibilidad asociadas al mencionado procesamiento. Por otro lado también se consideran las influencias de las condiciones ambientales tales como temperatura, presión y humedad en el método de medición. Los resultados del desvío de planitud y su incertidumbre obtenidos se encuadran en el intervalo establecido por calibraciones previas. A su vez este trabajo proporciona un método de verificación de las superficies patrón que se utilizan actualmente en INTI-Física y Metrología para la calibración de desvío de planitud, lo que permitió extender su período de calibración. |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://doi.org/10.31527/analesafa.2013.24.1.47 |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Actualización del balance de incertidumbre de medición interferométrica de bloques patrón |
| Autor: | Beer, E.; Giarmana, G.; Álvarez, L.; Bastida, K. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12, Buenos Aires. AR, 2015 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2015. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y metrología. |
| Descriptores: | Incertidumbre; Interferómetros; Mediciones; Patrón |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Calibración interferométrica de bloques patrón : optimización del proceso de medición |
| Autor: | Beer, E.; Giarmana, G.; Álvarez, L. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12, Buenos Aires. AR, 2015 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2015. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y metrología. |
| Descriptores: | Calibración; Interferómetros; Patrón |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Óptica |
| Autor: | Landsberg, G. S. |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Moscú. RU. Mir. |
| Pág./Vol.: | v.1:486p. |
| Descriptores: | Optica; Ondas; Ondas electromagnéticas; Fotometría; Mediciones ópticas; Unidades de medición; Interferencia; Luz; Coherencia de la luz; Oscilaciones; Fuentes de luz; Polarización; Sistemas ópticos; Interferómetros; Difracción; Holografía; Distorción; Instrumentos ópticos; Luz natural |
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| Ubicación: | 535/L263 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Fabricación de moduladores electroópticos Mach-Zehnder integrados en LiNbO3 |
| Autor: | Giménez, Gustavo; Martínez de Mendíbil, J.; Lifante Pedrola, G.; Pernas, P.; Fraigi, Liliana |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Departamento de Física de Materiales, Universidad Autónoma de Madrid. UAM. ES; Departamento de Física Aplicada, Universidad Autónoma de Madrid. UAM. ES |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2011. |
| Pág./Vol.: | p.296-297. |
| Notas: | Tema 07: Los nuevos productos argentinos, P11176. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Moduladores; Optoelectrónica; Equipos electrónicos; Dispositivos electrónicos; Guías de ondas; Interferómetros; Películas delgadas; Microelectrónica; Litio; Métodos ópticos; Cinc |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4686 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Optical shop testing |
| Autor: | Malacara, Daniel. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 3.e.. New Jersey. US. John Wiley & Sons. 2007. |
| Pág./Vol.: | 862p. |
| Descriptores: | Optica; Técnicas de evaluación; Interferómetros; Errores; Mediciones; Vidrios; Polarización; Coherencia de la luz; Microscopios; Ondas; Interferometría; Películas delgadas; Holografía; Geometría; Algoritmos; Imágenes; Longitud de onda; Mediciones ópticas; Propiedades ópticas; Aplicaciones; Calibración; Señales |
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| Ubicación: | FISICA/753 |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | The measurement of time; time, frequency and the atomic clock |
| Autor: | Audoin, Claude; Guinot, Bernard |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Cambridge. GB. Cambridge University Press. 2001. |
| Pág./Vol.: | 335p. |
| Descriptores: | Mediciones; Tiempo; Frecuencia; Relojes; Instrumentos de medición; Frecuencímetros; Osciladores; Piezoelectricidad; Resonadores; Oscilaciones; Rotación; Metrología; Patrones; Gravedad; Interferometría; Interferómetros; Telecomunicaciones |
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| Ubicación: | Metrología, Micro y Nanotecnología/1 |
| Disponibilidad: | INTI-Dirección para la Transferencia en Metrología, Micro y Nanotecnología y Nuevos Materiales |
| Tipo de Docum.: | serie monográfica |
| Título: | Cambios de frecuencia observados en la luz difundida por superficies en movimiento |
| Autor: | Montilla, Joaquín |
| Título Ser./Col.: | Publicaciones del Instituto de Optica "Daza de Valdés", 33 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Madrid. ES. Patronato de Investigación Científica y Técnica "Juan de la Cierva". 1969. |
| Pág./Vol.: | 94p. |
| Descriptores: | Optica; Luz; Frecuencia; Difusión; Superficies; Método experimental; Montaje; Interferómetros; Difusores; Fuentes de luz |
| Ubicación: | FISICA/510/Div.Luminotecnia |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Recuperación del interferómetro del metro Carl Zeiss 61154 |
| Autor: | Beer, Ethel; Ilieff, Sergio |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Encuentro de primavera 2011, Encuentro INTI, 10, Buenos Aires. AR, 2011 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2011. |
| Pág./Vol.: | p.206-207. |
| Notas: | Tema 06: Mayor confiabilidad de productos, P11095. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Interferómetros; Instrumentos de medición; Mediciones; Metro; Patrones; Interferencia; Interferometría |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4686 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Optical interferometry |
| Autor: | Francon, M. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York, US; London. GB. Academic Press. 1966. |
| Pág./Vol.: | 307p. |
| Descriptores: | Interferometría; Optica; Mediciones ópticas; Flujo luminoso; Ondas; Interferómetros; Interferencia; Polarización; Lasers; Instrumentos ópticos; Películas; Espectroscopía; Longitud de onda; Aplicaciones |
| Ubicación: | 535.41/F849 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Surface microtopography |
| Autor: | Tolansky, S. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Interscience. 1960. |
| Pág./Vol.: | 296p. |
| Descriptores: | Superficies; Topografía; Interferómetros; Cristalografía; Oscilaciones; Diamante |
| Ubicación: | 531.715/T574 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Phase recovery in temporal speckle pattern interferometry using the generalized S-transform |
| Autor: | Federico, Alejandro; Kaufmann, Guillermo H. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Título Ser./Col.: | Optics letters, 2008, 33(8) |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Optical Society America. OSA. Washington. US |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Washington. US. OSA. 2008. |
| Pág./Vol.: | p.866-868. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Transformaciones; Interferometría; Mediciones ópticas; Interferómetros |
Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4638 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Hilbert transform analysis of a time series of speckle interferograms with a temporal carrier |
| Autor: | Marengo Rodríguez, Fernando; Federico, Alejandro; Kaufmann, Guillermo H. |
| Autor Instit.: | INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR |
| Título Ser./Col.: | Applied optics, 2008, 47(9) |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Optical Society America. OSA. Washington. US |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Washington. US. OSA. 2008. |
| Pág./Vol.: | p.1310-1316. |
| Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Transformaciones; Interferometría; Métodos ópticos; Modulación; Ruido; Control del ruido; Absorción sonora; Intensidad; Frecuencia; Señales acústicas; Interferómetros; Instrumentos de medición; Filtros acústicos |
Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4637 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Optical shop testing |
| Autor: | Malacara, Daniel. ed. |
| Título Ser./Col.: | Wiley series in pure and applied optics |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 3.ed.. New Jersey. US. John Wiley & Sons. 2007. |
| Pág./Vol.: | 862p. |
| Descriptores: | Optica; Métodos ópticos; Ensayos ópticos; Interferómetros; Instrumentos de medición; Instrumentos ópticos; Luz; Fuentes de luz; Errores; Mediciones ópticas; Superficies; Lentes; Vidrios; Cristales; Lasers; Coherencia de la luz; Distorsión; Polarización; Flujo luminoso; Microscopíos; Interferometría; Holografía; Propagación de ondas; Longitud de onda; Propiedades ópticas; Aplicaciones; Metrología; Calibración; Detectores; Calidad; Métodos de análisis |
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| Ubicación: | FISICA/753 |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Optical interferometry |
| Autor: | Hariharan, P. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Amsterdam, NL; Boston. US. Elsevier. 2003. |
| Pág./Vol.: | 351p. |
| Descriptores: | Interferometría; Optica; Mediciones ópticas; Luz; Fuentes de luz; Ensayos ópticos; Coherencia de la luz; Ondas; Interferencia; Espectroscopía; Lasers; Interferómetros; Frecuencia; Flujo luminoso; Espectros; Mediciones electrónicas; Longitud de ondas; Superficies; Microscopía; Microscopios; Análisis de Fourier; Sensores; Errores; Análisis gravimétrico; Tiempo; Espacio; Fotones; Vibraciones; Sistemas lineales; Holografía; Reflexión; Transmisión de la luz |
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| Ubicación: | FISICA/752 |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Basics of interferometry |
| Autor: | Hariharan, P. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Amsterdam, NL; Boston. US. Elsevier. 2010. |
| Pág./Vol.: | 226p. |
| Descriptores: | Interferometría; Luz; Ondas; Fuentes de luz; Interferencia; Interferómetros; Espectros; Coherencia de la luz; Transmisión de la luz; Polarización; Reflexión; Flujo luminoso; Lasers; Fotodetectores; Fotodiodos; Mediciones ópticas; Longitud de onda; Ensayos ópticos; Distorsión; Técnicas digitales; Sensores; Conductores eléctricos; Detectores; Piroelectricidad; Frecuencia; Modulación; Dilatómetros; Microscopía; Microscopios; Holografía; Procesamiento de señales; Espectroscopía; Análisis de Fourier; Fotones; Difracción; Imágenes |
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| Ubicación: | FISICA/751 |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Surface microtopography |
| Autor: | Tolansky, S. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Interscience. 1960. |
| Pág./Vol.: | 296p. |
| Descriptores: | Superficies; Topografía; Interferómetros; Cristalografía; Oscilaciones; Diamante |
| Ubicación: | Córdoba/531.715/T574 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
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