Término solicitado: INTRUMENTOS DE MEDICION/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Estudio y puesta a punto de la técnica de medición de espesores de capas epitaxiales por el método de interferometría infrarroja |
| Autor: | Berset, Alberto; Grünhut, Enrique |
| Autor Instit.: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Secretaría de Estado de Ciencia y Tecnología. SECyT. Buenos Aires. AR, Congreso científico del programa nacional de electrónica, La Falda. AR, 1979 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. 1979. |
| Pág./Vol.: | 59p. |
| Unidad técnica: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. |
| Descriptores: | Mediciones; Interferometría; Espectros infrarrojos; Películas; Semiconductores; Espectrómetros; Longitud de ondas; Intrumentos de medición; Métodos de cálculo; Errores; Ruido; Factor de reflexión; Nitrógeno; Silicio; Interferencia; Resistencia eléctrica; Conductividad eléctrica |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4605 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Electronic measurement systems : theory and practice |
| Autor: | Putten, Anton F. P. van |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2nd. ed. . Bristol , GB; Philadelphia. US. IOP. 1996. |
| Pág./Vol.: | 446p. |
| Descriptores: | Mediciones; Mediciones electrónicas; Convertidores A/D; Convertidores D/A; Filtros; Transductores; Ruido; Sensores; Intrumentos de medición; Instrumentos electrónicos |
| Ubicación: | 621.38.08/P985 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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