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Término solicitado: KHOKLE, W.S./(22)

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Tipo de Docum.: libro
Título: Patterning of material layers in submicron region
Autor: Tandon, U.S.; Khokle, W.S.
Idioma: eng
Datos de Edición: New York, US; Brisbane, GB; Toronto, CA; Singapore. SG. Wiley. 1993.
Pág./Vol.: 183p.
Descriptores: Microelectrónica; Dispositivos electrónicos; Micrones; Nanotecnología; Litografía; Electrones; Iones; Rayos X
  
Ubicación: Electrónica/E-24
Disponibilidad: INTI-Electrónica



Fin

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