Término solicitado: LOIACONO, N./(22)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural |
Autor: | Álvarez, R.; Ugarteche, S.; Amore, S. F.; Loiacono, N.; Schvartz, M.; Spina, J.; Álvarez, D. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | INTI-Química. |
Descriptores: | Rayos X; Análisis químico; Patrimonio; Bienes culturales |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos X aplicando el método de Rietveld |
Autor: | Amore, S. F.; Schvartz, M.; Álvarez, R.; Loiacono, N. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
Pág./Vol.: | 4p. |
Unidad técnica: | INTI-Metrología. |
Descriptores: | Difracción de rayos x; Estructura cristalina |
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Trabajo de INTI |
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