Término solicitado: PALAFOX, LUIS/(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Towards a quantum sampling system |
| Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Behr, Ralf; Bierzychudek, Marcos E.; Palafox, Luis |
| Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig. DE |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM, Ottawa. CA, 10/07/2016-15/07/2016 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2016. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Teoría cuántica; Metrología; Voltaje; Voltametría; Instrumentos de medición; Convertidores digital-analógico; Metrología |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Design and characterization of a sampling system based on Σ-Δ analog-to-digital converters for electrical metrology |
| Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Palafox, Luis; Ihlenfeld, Waldedemar G.K.; Mohns, Enrico; Brendel, Christian |
| Título Ser./Col.: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol.58(4) 2009 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. US. IEEE. 2008. |
| Pág./Vol.: | 5p. |
| Notas: | Este artículo puede ser consultado completo por usuarios internos al INTI. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Electrometría; Mediciones eléctricas; Convertidores digital-analógico; Energía; Cargas eléctricas |
Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4788 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | artículo; documento de conferencia |
| Título: | Modeling of a sampling system based on Sigma-Delta ADC for data acquisition in metrology |
| Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Palafox, Luis; Behr, Ralf |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig. DE |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2012, Washington. US, 2012 |
| Título Ser./Col.: | CPEM Digest, art. no. 6251040, pp. 536-537 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copywright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Convertidores digital-analógico; Modelos; Muestreo; Precisión; Metrología; Mediciones; Transmisión de señales |
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Trabajo de INTI |
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