Término solicitado: BEHR, RALF/(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices |
| Autor: | Belcher, Allan; Williams, Jonathan; Ireland, Jane; Iuzzolino, Ricardo; Bierzychudek, Marcos E.; Dekker, Ronald; Herick, Jonas; Behr, Ralf; Schaapman, Kars |
| Reunión: | World Congress of the International Measurement Confederation (IMEKO), 12, Belfast. GB, 2018 |
| Título Ser./Col.: | Journal of Physics: Conference Series, 1065 |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Institute of Physics. IOP. Londres. Reino Unido |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IOP. 2018. |
| Pág./Vol.: | 4p. |
| Descriptores: | Voltaje; Corriente alterna; Corriente continua; Metrología; Mediciones eléctricas |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1065/5/052044 |
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Towards a quantum sampling system |
| Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Behr, Ralf; Bierzychudek, Marcos E.; Palafox, Luis |
| Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig. DE |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM, Ottawa. CA, 10/07/2016-15/07/2016 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2016. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Teoría cuántica; Metrología; Voltaje; Voltametría; Instrumentos de medición; Convertidores digital-analógico; Metrología |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | artículo; documento de conferencia |
| Título: | Modeling of a sampling system based on Sigma-Delta ADC for data acquisition in metrology |
| Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Palafox, Luis; Behr, Ralf |
| Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig. DE |
| Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2012, Washington. US, 2012 |
| Título Ser./Col.: | CPEM Digest, art. no. 6251040, pp. 536-537 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copywright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Convertidores digital-analógico; Modelos; Muestreo; Precisión; Metrología; Mediciones; Transmisión de señales |
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Trabajo de INTI |
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