Término solicitado: WILLIAMS, JONATHAN/(22)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices |
Autor: | Belcher, Allan; Williams, Jonathan; Ireland, Jane; Iuzzolino, Ricardo; Bierzychudek, Marcos E.; Dekker, Ronald; Herick, Jonas; Behr, Ralf; Schaapman, Kars |
Reunión: | World Congress of the International Measurement Confederation (IMEKO), 12, Belfast. GB, 2018 |
Título Ser./Col.: | Journal of Physics: Conference Series, 1065 |
Autor Inst. Ser./Col.: | Institute of Physics. IOP. Londres. Reino Unido |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IOP. 2018. |
Pág./Vol.: | 4p. |
Descriptores: | Voltaje; Corriente alterna; Corriente continua; Metrología; Mediciones eléctricas |
Ver Documento | |
Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1065/5/052044 |
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