Término solicitado: CAPACITORES/(65)
103 Registro/s encontrado/s en CAT
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Carbón derivado de MOF-5 para supercapacitores |
Autor: | Arroyo Gómez, J. J.; Villarroel Rocha, D.; Montiel, G.; Sapag, K.; Abuin, G. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
Pág./Vol.: | Pag. varias: grafs.; tbls. |
Unidad técnica: | INTI-Departamento de Almacenamiento de la Energía. |
Descriptores: | Supercondensadores; Carbón; Materiales porosos; Porosidad; Capacitores; Almacenamiento; Energía |
Ver Documento | |
Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Resistores no lineales |
Autor Instit.: | Fábrica de Productos Electrónicos Sociedad Anónima. FAPESA. Buenos Aires. AR |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. Edicient. 1976. |
Pág./Vol.: | 68p. |
Descriptores: | Circuitos; Diseño de circuitos; Voltaje; Redes eléctricas; Tolerancia; Errores; Frecuencia; Resistores; Matrices; Interruptores eléctricos; Ecuaciones no lineales; Oscilaciones; Capacitores; Mediciones |
Ubicación: | 621.316/F126 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Comparing two methods of electrometers coulomb calibration |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Real, Mariano A. |
Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2014 (pp. 558-559), Rio de Janeiro. BR, 2014 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IEEE. 2014. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copyright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Electrometría; Electrómetros; Mediciones eléctricas; Cargas eléctricas; Calibración; Corriente eléctrica; Dosimetría; Capacitores; Voltaje |
Ver Documento | |
Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | HfO2 based memory devices with rectifying capabilities |
Autor: | Quinteros, C.; Zazpe, R.; Marlasca, F.G.; Golmar, F.; Casanova, F.; Stoliar, P.; Hueso, L.; Levy, P. |
Autor Instit.: | GIA, GAIANN, CAC-CNEA. San Martín, Bs. As. AR; CIC nanoGUNE. Donostia-San Sebastián. ES; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao. ES; Université de Nantes. IMN, CNRS. Nantes. FR; ECyT, UNSAM. San Martín, Bs. As.. AR |
Título Ser./Col.: | Journal of Applied Physics 115, 024501 (2014) |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Melville. US. American Institute of Physics. 2014. |
Pág./Vol.: | 5p. |
Unidad técnica: | INTI-Electrónica e Informática. |
Descriptores: | Dispositivos electrónicos; Capacitores; Electrodos; Aislación; Metales; Oxidos; Resistencia eléctrica; Voltaje; Mediciones eléctricas |
Ver Documento | |
Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | informe |
Título: | Final report; Capacitance Comparison; SIM.EM-K4, 10 pF fused-silica standard capacitor at 1000 Hz and 1600 Hz; SIM.EM-S4, 100 pF fused-silica standard capacitor at 1000 Hz and 1600 Hz; SIM.EM-S3, 1000 pF nitrogen gas standard capacitor at 1000 Hz |
Autor: | Cazabat, M.; Ogino, L. M.; Kyriazis, G.; Vasconcellos, R. T. B.; Wood, B.; Kochav, K.; Sánchez, H.; Castro, B. I.; Moreno, J. A.; Koffman, A.; Zhang, N. F.; Wang, Y.; Shields, S.; Slomovitz, D.; Izquierdo, D.; Faverio, C. |
Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; INMETRO. Rio de Janeiro. BR; NRC. Ottawa. CA; ICE. San José. CR; CENAM. Querétaro. MX; NIST. Gaithersburg. US; UTE. Montevideo. UY |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. s.e. 2012. |
Pág./Vol.: | 46p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Capacitancia; Capacitores; Metrología; Mediciones; Métodos de análisis; Incertidumbre; Normalización |
Ver Documento | |
Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | CMOS; circuit design, loyout, and simulation |
Autor: | Baker, R. Jacob |
Autor Instit.: | Institute of Electrical and Electronic Engineers. IEEE. New Jersey. US |
Título Ser./Col.: | Series on microelectronic systems |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.e.. New Jersey. US. IEEE, Wiley-Interscience. 2008. |
Pág./Vol.: | 1038p. |
Notas: | Ejemplar ubicado en el laboratorio de Mediciones y Calibraciones. |
Descriptores: | Circuitos integrados digitales; Circuitos; Diseño; Layout; Simulación; Circuitos integrados analógicos; Voltaje; Análisis; Diodos; Frecuencia; Capacitores; Inductores eléctricos; Resistores; Energía; Metales; Corriente parásita; Conductividad electrica; Dieléctricos; Ruidos; Espectroscopía; Electricidad; Ecuaciones; Temperatura; Osciladores; Modulación; Señales; Amplificadores; Impedancia; Sistemas analógicos; Sistemas no lineales |
Ver más | |
Ubicación: | CITEI/94 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Ionizing radiation efects in mos devices and circuits |
Autor: | Ma, T.P.. ed.; Dressendorfer, Paul V.. ed. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York, US; Chichester, GB; Brisbane, AU; Toronto. CA. John Wiley & Sons. 1989. |
Pág./Vol.: | 587p. |
Descriptores: | Radiación ionizante; Circuitos; Electrodos; Transporte; Inductancia; Capacitacia; Capacitores; Radiación; Ionización |
Ubicación: | Electrónica/Microsistemas/3 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | High-voltaje test techniques |
Autor: | Kind, Dieter; Feser, Kurt |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.ed.. Oxford, GB; Boston. US. Newnes. 2005. |
Pág./Vol.: | 308p. |
Descriptores: | Alto voltaje; Técnicas de evaluación; Mediciones eléctricas; Circuitos; Transformadores; Performance; Capacitores; Impedancia; Electrostática; Resistores; Voltímetros; Voltaje; Calibración; Corriente eléctrica; Ensayos no destructivos; Puesta a tierra; Electrodos; Campo eléctrico; Líquidos; Sólidos; Ondas; Energía; Campo magnético |
Ubicación: | FISICA/720 |
Disponibilidad: | INTI-Física y Metrología |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Física II; trabajos prácticos de electricidad |
Autor: | Cattaneo, A.; Greco, F.I. |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. Centro estudiantes de ingeniería La línea recta. 1970. |
Pág./Vol.: | pag.varía. |
Descriptores: | Electricidad; Física; Corriente continua; Mediciones eléctricas; Potenciómetros; Electroquímica; Calibración; Campo magnético; Ferromagnetismo; Circuitos; Capacitores |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/243 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Outline of electromagnetic theory;including problems with step-by-step solutions |
Autor: | Zaret, Matthew E. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Regents publishing. 1964. |
Pág./Vol.: | 317p. |
Descriptores: | Electromagnetismo; Análisis vectorial; Vectores; Electrostática; Ecuaciones de Navier-Stokes; Distribución de Gauss; Transformaciones de LaPlace; Conductores eléctricos; Capacitores; Imágenes; Energía; Campo magnético; Magnetismo; Inductancia; Electricidad; Resistencia eléctrica; Ecuaciones; Ondas; Propagación de ondas; Ondas electromagnéticas; Frecuencia; Radiación; Antenas |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/223 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | MOSFET in circuit design; metal-oxide-semiconductor field-effect transistors for discrete and integrated-circuit technology |
Autor: | Crawford, Robert H. |
Título Ser./Col.: | Texas instruments electronics series |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Mc-Graw-Hill. 1967. |
Pág./Vol.: | 146p. |
Descriptores: | Diseño de circuitos; Metales; Oxidos; Semiconductores; Transistores; Circuitos integrados; Análisis; Voltaje; Frecuencia; Capacitores; Circuitos integrados analógicos; Amplificadores |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/199/M-41 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | manual |
Título: | Handbook of thin film technology |
Autor: | Maissel, Leon I.. ed.; Glang, Reinhard. ed. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. McGraw-Hill book company. 1970. |
Pág./Vol.: | pag.varía. |
Descriptores: | Películas delgadas; Vacío; Evaporación; Aplicaciones; Condensación; Nucleación; Crecimiento de cristales; Propiedades; Propiedades mecánicas; Propiedades eléctricas; Propiedades dieléctricas; Piezoelectricidad; Piezoresistencia; Ferromagnetismo; Resistores; Capacitores; Magnetismo; Superconductividad; Circuitos integrados |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/105/H-4 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Computer methods for circuit analysis and design |
Autor: | Vlach, Jiri; Singhal, Kishore |
Título Ser./Col.: | Van Nostrand Reinhold Electrical/Computer science and engineering series |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Van Nostrand Reinhold company. 1983. |
Pág./Vol.: | 594p. |
Descriptores: | Computadoras; Circuitos; Análisis; Diseño; Capacitores; Inductores eléctricos; Transformaciones de Laplace; Transductores; Terminales; Ecuaciones; Formulas matemáticas; Voltaje; Sensibilidad; Amplificadores; Frecuencia; Algoritmos; Ecuaciones diferenciales; Modelos; Diodos; Transistores; Sistemas digitales; Variables |
Ubicación: | Electrónica/Comunicaciones/10 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Título: | Control de la interferencia electromagnética |
Autor: | Benedetti, Mario; Calcoen, Daniel; Fernandez Rovira, Joaquin; Kloster, Walter; Lorenzo, Juan Manuel; Petrocelli, Roberto; Uicich, Gustavo |
Autor Instit.: | Asociación Argentina de control automático. AADECA. Buenos Aires. AR |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. AADECA. 2000. |
Pág./Vol.: | 297p. |
Descriptores: | Electromagnetismo; Interferencia; Control; Propagación de ondas; Radiación; Normas; Normalización; Mediciones; Ensayos; Magnetismo; Impedancia; Capacitores; Líneas de transmisión; Sensibilidad; Equipos de seguridad; Campo eléctrico; Campo magnético; Circuitos; Circuitos impresos; Blindaje; Redes eléctricas; Métodos de cálculo; Análisis de Fourier |
Ubicación: | 621.37/B462 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Electric circuits; part 1 direct current |
Autor: | Johnson, J. Richard |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Holt, Rinehart and Winston. 1970. |
Pág./Vol.: | 511p. |
Descriptores: | Circuitos; Electricidad; Moléculas; Atomos; Electrones; Electricidad; OHM; Unidad de medición; Voltaje; Energía eléctrica; Conductividad eléctrica; Magnetismo; Electromagnetismo; Permeabilidad; Temperatura; Superconductividad; Resistencia de materiales; Celdas; Inductancia; Inductores eléctricos; Capacitancia; Capacitores |
Ubicación: | Electrónica/F-13 |
Disponibilidad: | INTI-Electrónica e Informática |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Understanding delta-sigma data converters |
Autor: | Schreier, Richard; Temes, Gabor C. |
Autor Instit.: | Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York. US |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New Jersey. US. IEEE, Wiley. 2005. |
Pág./Vol.: | 446p. |
Descriptores: | Convertidores eléctricos; Modulación; Moduladores; Convertidores digital-analógicos; Performance; Ruido; Simulación; Modelos; Estabilidad; Filtros; Filtración; Señales; Feedback; Errores; Técnicas digitales; Diseño; Voltaje; Capacitores; Circuitos |
Ubicación: | Fisica/716(Div.Electricidad) |
Disponibilidad: | INTI-Física |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Digital integrated circuits; a design perspective |
Autor: | Rabaey, Jan M.; Chandrakasan, Anantha; Nikolic, Borivoje |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.ed.. New Jersey. US. Pearson Prentice Hall. 2003. |
Pág./Vol.: | 761p. |
Descriptores: | Circuitos integrados digitales; Diseño de circuitos; Fabricación; Calidad; Silicio; Litografía; Envases; Dispositivos; Simulación; Cables; Capacitores; Resistencia eléctrica; Inductancia; Circuitos |
Ver más | |
Ubicación: | 621.382/R112 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | The art of analog Layout |
Autor: | Hastings, Alan |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | 2.ed.. New Jersey. US. Pearson Prentice Hall. 2006. |
Pág./Vol.: | 648p. |
Descriptores: | Layout; Dispositivos; Semiconductores; Uniones; Diodos; Transistores; Fabricación; Silicio; Litografía; Oxidos; Iones; Resistores; Fallas mecánicas; Voltaje; Electricidad; Contaminación ambiental; Capacitores; Condensadores; Inductores eléctricos; Resistencia eléctrica |
Ver más | |
Ubicación: | 621.38/H357 |
Disponibilidad: | Préstamo |
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]