Término solicitado: GRANELL, P./(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Laboratorio de microscopia FIB |
| Autor: | Granell, P.; Patrone, L.; Tozzi, L.; Golmar, F.; Giménez, G. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y Nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Laboratorios; Microscopia; Iones |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Laboratorio de nanofabricación con FIB/SEM |
| Autor: | Granell, P.; Tozzi, L.; Lozano, A.; Giménez, G. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2013. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Nanotecnología; Materiales nanoscópicos |
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Trabajo de INTI |
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