Término solicitado: TOZZI, L./(22)
3 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Laboratorio de microscopia FIB |
| Autor: | Granell, P.; Patrone, L.; Tozzi, L.; Golmar, F.; Giménez, G. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y Nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Laboratorios; Microscopia; Iones |
 Ver Documento
| |
Trabajo de INTI |
|
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Dispositivo IoT para análisis de fallas en vehículos |
| Autor: | Arana, L.; Berón López, N.; Segura, S.; Seva, L.; Alamón, Diego; Lloret, M.; Flores, F.; Tozzi, L. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 3p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Internet; Vehículos |
| Ver Documento
| |
Trabajo de INTI |
|
| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Laboratorio de nanofabricación con FIB/SEM |
| Autor: | Granell, P.; Tozzi, L.; Lozano, A.; Giménez, G. |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11, Buenos Aires. AR, 2013 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2013. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Micro y nanoelectrónica. |
| Descriptores: | Nanotecnología; Materiales nanoscópicos |
| Ver Documento
| |
Trabajo de INTI |
|
Fin
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]