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Término solicitado: HUESO, L. E./(22)

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Tipo de Docum.: artículo
Título: In situ electrical characterization of palladium-based single electron transistors made by electromigration technique
Autor: Arzubiaga, L.; Golmar, F.; Llopis, R.; Casanova, F.; Hueso, L. E.
Título Ser./Col.: AIP Advances, 4(11)
Idioma: eng
Datos de Edición: s.l. AIP Publishing. 2014.
Pág./Vol.: 7p.
Descriptores: Electricidad; Electrones; Transistores; Paladio; Electrodos; Aleaciones de níquel; Electrostática
Resumen: We report the fabrication of single electron transistors (SETs) by feedback-controlled electromigration of palladium and palladium-nickel alloy nanowires. We have optimized a gradual electromigration process for obtaining devices consisting of three terminals (source, drain and gate electrodes), which are capacitively coupled to a metallic cluster of nanometric dimensions. This metal nanocluster forms into the inter-electrode channel during the electromigration process and constitutes the active element of each device, acting as a quantum dot that rules the electron flow between source and drain electrodes. The charge transport of the as-fabricated devices shows Coulomb blockade characteristics and the source to drain conductance can be modulated by electrostatic gating. We have thus achieved the fabrication and in situ measurement of palladium-based SETs inside a liquid helium cryostat chamber.

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Trabajo de INTI

URL:

http://dx.doi.org/10.1063/1.4902170



Tipo de Docum.: artículo
Título: Electronic transport in sub-micron square area organic field-effect transistors
Autor: Golmar, F.; Stoliar, P.; Gobbi, M.; Casanova, F.; Hueso, L. E.
Autor Instit.: CIC nanoGUNE Consolider. Donostia – San Sebastián. ES; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Laboratoire de Physique des Solids. LPS, CNRS. Orsay. FR; Escuela de Ciencia y Tecnología. Universidad Nacional de San Martín. ECyT, UNSAM. San Martín, Pcia. de Buenos Aires. AR; IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao. ES
Título Ser./Col.: Applied Physics Letters. 102, 103301 (2013)
Idioma: eng
Datos de Edición: Melville. US. American Institute of Physics. 2013.
Pág./Vol.: 6p.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Transistores; Semiconductores; Nanoestructuras; Dispositivos electrónicos; Campo eléctrico

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Trabajo de INTI



Fin

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