Servicios de Información y Documentación

Biblioteca

Término solicitado: HUESO, L.E./(22)

3 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA



Tipo de Docum.: artículo
Título: C60-based hot-electron magnetic tunnel transistor
Autor: Gobbi, M.; Bedoya-Pinto, A.; Golmar, F.; Llopis, R.; Casanova, F.; Hueso, L.E.
Autor Instit.: CIC nanoGUNE Consolider. Donostia – San Sebastián. ES; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao. ES
Título Ser./Col.: Applied Physics Letters. 101, 102404 (2012)
Idioma: eng
Datos de Edición: Melville. US. American Institute of Physics. 2012.
Pág./Vol.: 5p.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Transistores; Carbono; Dispositivos electrónicos; Electrones; Semiconductores; Interfaces; Metales; Mediciones eléctricas; Campo magnético; Sensores

Ver Documento

Trabajo de INTI



Tipo de Docum.: artículo
Título: Experimental verification of the spectral shift between near- and far-field peak intensities of plasmonic infrared nanoantennas
Autor: Alonso-González, P.; Albella, P.; Neubrech, F.; Huck, C.; Chen, J.; Golmar, F.; Casanova, F.; Hueso, L.E.; Pucci, A.; Aizpurua, J.; Hillenbrand, R.
Autor Instit.: CIC nanoGUNE. Donostia – San Sebastián. ES; Centro de Física de Materiales. CSIC-UPV/EHU. Donostia – San Sebastián. ES; Donostia International Physics Center. DIPC. Donostia – San Sebastián. ES; Kirchhoff Institute for Physics, University of Heidelberg. Heidelberg. DE; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao. ES
Título Ser./Col.: Physical Review Letters 110, 203902 (2013)
Idioma: eng
Datos de Edición: Washington. US. American Physical Society. 2013.
Pág./Vol.: 6p.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Antenas; Nanotecnología; Nanoestructuras; Microscopía; Rayos infrarrojos; Espectroscopía

Ver Documento

Trabajo de INTI



Tipo de Docum.: artículo
Título: Resistive switching in rectifying interfaces of metal-semiconductor-metal structures
Autor: Zazpe, R.; Stoliar, P.; Golmar, F.; Llopis, R.; Casanova, F.; Hueso, L.E.
Autor Instit.: CIC nanoGUNE. Donostia – San Sebastián. ES; IMN, Université de Nantes. CNRS. Nantes. FR; Escuela de Ciencia y Tecnología. ECyT, UNSAM. San Martín, pcia. de Bs As. AR; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao. ES
Título Ser./Col.: Applied Physics Letters. 103, 073114 (2013)
Idioma: eng
Datos de Edición: Melville. US. American Institute of Physics. 2013.
Pág./Vol.: 6p.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Semiconductores; Metales; Propiedades eléctricas; Resistencia eléctrica; Interfaces

Ver Documento

Trabajo de INTI



Fin

[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]